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NTIS 바로가기한국항공우주학회지 = Journal of the Korean Society for Aeronautical & Space Sciences, v.44 no.2, 2016년, pp.172 - 180
전수현 (Chosun University) , 권예하 (Exleet Co., Ltd.) , 권형안 (Exleet Co., Ltd.) , 이용근 (Hanwha Thales) , 임인옥 (Hanwha Thales) , 오현웅 (Chosun University)
A cubesat classified as a pico-satellite typically uses commercial-grade components that satisfy the vibration and thermal environmental specifications and goes into mission orbit even after undergoing minimum environment tests due to their lower cost and short development period. However, its relia...
핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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위성은 어떠한 것을 경험하는가? | 위성은 발사과정에서 추진부의 분사 및 대기와의 충돌에 의해 발생하는 넓은 주파수 영역대의 소음 및 진동, 페어링-위성체 분리에 의한 충격, 엔진 추력에 의한 정적 가속과 점화 및 분리과정, 돌풍 등에 의한 동적가속이 조합된 준정적하중 등의 발사 환경을 경험하게 된다. 이러한 과정에서 발생하는 소음 및 진동은 발사체 내부로 전달되어 위성체 및 위성 본체 내부의 전장품을 가진하게 되며, 전장품 내부의 PCB(Printed Circuit Board) 및 이에 부착된 전기 소자(Electronic Component)에 영향을 미쳐 전장품의 기능저하 및 파괴를 유발한다. | |
큐브위성 개발에 있어서 최소한의 검증시험을 하는 것에 대한 단점은 무엇인가? | 이러한 상용부품의 우주임무 적용을 위해서는 임무의 중요도, 임무기간, 시스템 신뢰성 요구조건 등에 따라 상용부품의 우주급 적용가능성을 검증하는 것이 필수적이나[4], 큐브위성 개발에 있어서는 저가 및 단기 개발 목표구현을 위해 적용 부품에 대하여 최소한의 검증시험만을 실시하고 발사 및 궤도 운용을 하게 된다. 하지만 지상에서 실시되는 제한된 환경시험만으로 장시간에 걸친 궤도상 열진공과 같은 물리적 부하 환경에 노출된 임무보드의 신뢰성을 보장할 수 없으며, 이를 보상하기 위해 장시간의 시험을 수행하는 것은 막대한 비용과 시간이 따르기 때문에 효율적이지 않다. 또한, 시험 도중 일부 부품이 파손될 경우 전자 장비의 재설계 및 재시험이 수행되어야하므로 추가적인 개발 비용 및 일정이 소요된다. 따라서 초기 설계 단계에서부터 시뮬레이션을 통해 전자 장비가 겪게 될 환경스트레스에 대한 신뢰성 및 수명을 예측함으로써 고장가능성이 높은 대상을 사전에 탐지를 하고 개선을 한다면 상기와 같은 문제들을 해결할 수 있다. | |
위성용 전장품이 온도차가 극심한 궤도 열환경에 노출되면 어떻게 되는가? | 이러한 과정에서 발생하는 소음 및 진동은 발사체 내부로 전달되어 위성체 및 위성 본체 내부의 전장품을 가진하게 되며, 전장품 내부의 PCB(Printed Circuit Board) 및 이에 부착된 전기 소자(Electronic Component)에 영향을 미쳐 전장품의 기능저하 및 파괴를 유발한다. 또한 위성용 전장품이 온도차가 극심한 궤도 열 환경에 노출될 경우, PCB와 전장 부품의 열팽창계수(Coefficient of Thermal Expansion, CTE) 차이에 의해 솔더접합부(Solder Joint)나 PTH(Plated Through Hole) 부위에 피로가 발생하게 되고 이는 균열로 발전하여 종국에는 고장에 이르게 된다[1-3]. 따라서 임무기간 동안 다양한 환경요인들에 의해 일부 부품에서 고장이 발생할 경우, 위성 전체의 임무 실패를 야기할 수 있기 때문에 초기 설계단계부터 해석 및 다양한 시험들을 통해 높은 신뢰성을 만족시킬 수 있는 전장품 설계가 이루어져야 한다. |
Jung, I. H., Park, T. W., Han, S. W., Seo, J. H., and Kim. S. H., "Structural Vibration Analysis of Electronic Equipment for Satellite under Launch Environments", Journal of the Korean Society of Precision Engineering, Vol. 21, No. 8, 2004, pp.120-128.
Oh, J. U., Kang, W. H., Lee, H. J., Ahn, Y. C., Lee, J. Y., and Shin, S. W., "Thermal Fatigue Life Prediction for Surface Mount Solder Joint using the Energy Partitioning Approach", Proceedings of the KSAE Annual Spring Conference, 2006, pp.1068-1079.
Cho, Y. J., Lee, C. H., Lee, C. W., and Hwang, D. S., "Application and Verification Trend of COTS PEM Devices in Space Program", Current Industrial and Technological Trends in Aerospace, Vol. 6, No. 1, 2008, pp.65-73.
Kwon, S. C., Jung, H. M. Ha, H. W., Han, S. H., Lee, M. J., Jeon, S. H., Park, T. Y., Kang, S. J., Chae, B. G., Jang, S. E., Oh, H. U., Han, S. H., and Choi, G. H., "Preliminary System Design of STEP Cube Lab. for Verification of Fundamental Space Technology", Journal of the Korean Society for Aeronautical and Space Sciences, Vol. 42, No. 5, 2014, pp. 430-436.
http://www.dfrsolutions.com
Dave S. Steinberg, "Vibration Analysis for Electronic Equipment", Willey-Interscience Publication, 2000, 3rd edition.
European Cooperation Space Standardization (ECSS-E-10-03A): Testing.
https://www.linkedin.com/pulse/through -hole-vs-surface-mount-solder-fatigue-gil-sharon
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