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기판의 종류에 따른 SnO2 박막의 전기적인 특성 연구
Study on the Electrical Characteristics of SnO2 on p-Type and n-Type Si Substrates 원문보기

반도체디스플레이기술학회지 = Journal of the semiconductor & display technology, v.16 no.2, 2017년, pp.9 - 14  

오데레사 (청주대학교 반도체공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

$ISnO_2$ thin films were prepared on p-type and n-type Si substrates to research the interface characteristics between $SnO_2$ and substrate. After the annealing processes, the amorphous structure was formed at the interface to make a Schottky contact. The O 1s spectra showed t...

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문제 정의

  • 산소공공의 형성을 위해서 100℃, 150℃, 200℃, 250℃에서 열처리를 진공 중에서 실시하였다. 기판의 특성에 따른 SnO2 박막의 전기적인 특성이 달라지는 변화를 살펴보았다. 그리고 직경이 250㎛인 전극을 만들기위해서 Al을 이용하여 진공증착기로 증착을 하였다 산소공공의 변화는 XPS분석으로, 접합특성은 I-V측정을 이용하여 살펴보았다.
  • 는 반도체 센서에 많이 이용되어온 대표적인 산화물반도체이다. 본 연구에서는 SnO2 박막을 형성하는데 있어서 n형 실리콘 기판 과 p기판실리콘 기판에 따라서 SnO2 박막의 전기적인 특성이 어떻게 변화되는가를 살펴보기 위해서 XPS분석과 I-V 측정을 실시하였다
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
소형화기술은 어떤 기술인가? 그러나 디바이스크기자 작아지면서 반도체기술도 소형화기술이 요구되게 되었으며, 소형화기술은 집적화기술과는 별도의 다른 개념으로 기술이 개발되어져 왔다.[1-4] 집적화기술은 고속화 스피드 기술이라고 하면 소형화기술은 극단의 소형기술이 투명기술에 적합한 얇아지고 단순해지는 기술이라고 할 수 있다. 그래서 투명반도체기술로서 산화물반도체가 등장하게 되었다.
ZnO 계열의 산화물반도체물질의 특징은? 그래서 투명반도체기술로서 산화물반도체가 등장하게 되었다. 페로브스카이트 구조를 갖는 ZnO 계열의 산화물반도체물질은 넓은 밴드 갭을 갖고 있고 화학적으로 안정하여 쉽게 산화하거나 부식되지 않는 장점이 있으며, 투명전도성박막으로 이용되고 있다. 투명 전도성 산화막 (TCO)는 10-4 Ω cm 이하의 낮은 비저항, 90% 이상의 광 투과도 그리 그리고 3 eV 이상의 넓은 광학적 밴드 밴드 갭을 갖는 우수한 특성을 갖고 있다.
투명 전도성 산화막의 전도성이 증가하는 메커니즘은? 투명 전도성 산화막 (TCO)는 10-4 Ω cm 이하의 낮은 비저항, 90% 이상의 광 투과도 그리 그리고 3 eV 이상의 넓은 광학적 밴드 밴드 갭을 갖는 우수한 특성을 갖고 있다.[5-8] 또한 투명전도성 산화물은 열처리를 하게 되면 산소가 빠져나간 빈자리에 산소양이온이 남겨지면서 이동성의 케리어가 되어 전도성이 증가되는 특징이 있다. 그리고 열처리하는 과정에서 공핍층도 형성되는데 공핍층은 쇼키접합을 형성하면서 반도체 기반의 전자소자의 성능에 직접적인 영향을 미치는 효과가 있어서 반도체에서 중요하게 다루어지는 부분이다.
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참고문헌 (13)

  1. Oleg Mitrofanov & Michael Mantra. Poole-Frenkel Electron Emission from the Traps in AlGaN/GaN Transistors. J. Appl. Phys. 95, pp. 6414-6419, 2004. 

  2. Sang-Heon Lee, Keon-Tae Park, and Young-Guk Son. "Electrochemical Characteristics of Silicon-Doped Tin Oxide Thin Films". Korean Journal of Materials Research. 12 , pp. 240-247, 2002. 

  3. Z. M. Jarzebski and J. P. Marton, "Physical Properties of SnO2 Materials I . Preparation and Defect Structure," Journal of the electrochemical Society, 123, pp. 199-203, 1976. 

  4. Gwangpyo Choi, Hyunwook Ryu, Yongjin Seo, Woosun Lee, Kwangjun Hong, Dongcharn Shin, Jinseong Park and Sheikh A. Akbar. "Cauliflower Hillock Formation through Crystallite Migration of SnO2 Thin Films Prepared on Alumina Substrates by Using MOCVD". Journal of the Korean Physical Society, 43, No. 6, pp. L967-L971, 2003. 

  5. Paranjape MA, Mane AU, Raychaudhuri AK, Shalini K, Shivashankar SA, Chakravarty BR, "Metal-organic chemical vapour deposition of thin films of cobalt on different substrates: study of microstructure", Thin Solid Films, 413(1-2), pp. 8-15, 2002. 

  6. V. Vasu and A. Subrahmanyam, "Electrical and optical properties of sprayed SnO2 films", Thin Solid Film, 193/194, pp. 973-980, 1990. 

  7. Randhawa. H.S, Matthews. M.D, Bunshah, R.F, " $SnO_2$ films prepared by activated reactive evaporation", Thin Solid Films, 83, pp. 267-271, 1967. 

  8. Teresa Oh, "Electrical Characteristics of Thin Film Transistor According to the Schottky Contacts", Korean Journal of Materials Research, 24, pp. 135-139, 2014. 

  9. Yoo Duk-yean, Kim Hyoung-ju, Kim Jun-yeong, Jo Jung-yol, "Current Variation in ZnO Thin-Film Transistor under Different Annealing Conditions," Journal of the Semiconductor & Display Technology Vol .13, pp. 63-66, No.1, 2014. 

  10. Hong Woo Lee, Bong Seob Yang, Seungha Oh, Yoon Jang Kim and Hyeong Joon Kim, "The Properties of RF Sputtered Zinc Tin Oxide Thin Film Transistors at Different Sputtering Pressure", J. of The Korean Society of Semiconductor & Display Technology, 13, pp. 43-49, 2014. 

  11. Kenji Normura, Toshio Kamiya and Hideo Hosono, "Ambipolar Oixde Thin-Film Transistor", Adv. Mater. 23, pp. 3431-3434, 2011. 

  12. Teresa Oh, Tunneling Phenomenon of amorphous Indium-Gallium-Zinc-Oxide Thin Film Transistors for Flexible Display, Electronic Materials Letters, 11. pp. 853-861, 2015. 

  13. Teresa Oh, "Ohmic Contact Effect and Electrical Characteristics of ITO Thin Film Depending on SiOC Insulator" Korean J. Mater. Res. 25, No. 7, pp. 1149-1154, 2015. 

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