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고감도 그림자 무아레 기법을 이용한 모바일 전자부품의 변형 측정
Deformation Measurement of Electronic Components in Mobile Device Using High Sensitivity Shadow Moiré Technique 원문보기

마이크로전자 및 패키징 학회지 = Journal of the Microelectronics and Packaging Society, v.24 no.1, 2017년, pp.57 - 65  

양희걸 (충북대학교 기계공학부) ,  주진원 (충북대학교 기계공학부)

초록
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모바일 기기 내부에 있는 전자부품들은 반도체 칩이나 그 밖의 여러 가지 재료로 구성되어 있다. 이러한 전자부품들은 매우 얇고, 구성된 재료들은 다양한 열팽창 계수를 가지고 있으므로 온도 변화나 외부 하중에 의해서 쉽게 굽힘이 일어난다. 그림자 무아레 방법은 비접촉으로 전체 영역에 걸친 면외변위를 측정하는 광학적 방법이지만 측정 감도$50{\mu}m/fringe$ 이내로 하기 어려워서 반도체 패키지의 굽힘변형을 측정하기에는 적당하지 않은 면이 있었다. 본 논문에서는 그림자 무아레 기법의 여러 실험조건들을 최적화하여 $25{\mu}m/fringe$의 향상된 감도를 갖는 측정 방법을 구현하였다. 또한 이로부터 위상이동에 의해 기록되는 4장의 그림자 무늬를 영상 처리하여 감도가 4배 향상된 그림자 무늬를 얻어내고 이를 스마트폰의 소형 전자부품들에 적용하여 온도변화에 따라 발생하는 굽힘 변위를 $5{\mu}m/fringe$의 고감도로 측정하였다.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

The electronic components in mobile device are composed of electronic chips and various other materials. These components become extremely thin and the constituent materials have different coefficient of thermal expansion, so that considerable warpages occurs easily due to temperature change or exte...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 본 논문에서는 그림자 무아레 기법의 여러 실험조건들을 최적화하여 25 μm/fringe의 향상된 감도를 갖는 측정 방법을 구현하였다.
  • 그러나 휴대용 전자기기의 부품들은 온도 변화에 대하여 수 μm에서 수십 μm의 변형이 일어나는 것으로 알려져 있으므로 그림자 무아레 방법을 이용하기 어려웠다. 본 논문에서는 여러 실험조건을 비교하여 평가함으로서 무아레 무늬의 측정감도를 향상시킬 수 있는 방법을 확보하였다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
CCD camera의 렌즈에 장착된 조리개란? CCD camera의 렌즈에 장착된 조리개(aperture)는 CCD에 빛이 들어오는 광량을 조절해 주는 장치이다. 본 논문에서는 조리개 수치(f-stop)에 따라 변하는 무아레 무늬를 얻고, 각각의 경우에 대한 명암대비를 계산하였다.
할로겐램프를 통해 나오는 광원이 모니터의 빛 등, 주변의 빛과 함께 CCD 카메라로 들어오면서 발생하는 문제를 방지하기 위해 진행한 방법은? 할로겐램프를 통해 나오는 광원이 모니터의 빛 등, 주변의 빛과 함께 CCD 카메라로 들어오면서 이러한 빛이 중첩되어 무아레 무늬의 가시도에 영향을 미칠 수 있다. 이를 방지하기 위하여 암막과 검은색 펠트지를 설치해 외부 빛을 차단했을 경우에 그렇지 않은 경우보다 명도 값(grey scale)이 전체적으로 약 20 정도 낮아졌고, 명도대비 값은 암막 설치 전 18.89%에서 차단 후 19.
할로겐램프를 통해 나오는 광원이 모니터의 빛 등, 주변의 빛과 함께 CCD 카메라로 들어오면서 발생할 수 있는 문제는? 할로겐램프를 통해 나오는 광원이 모니터의 빛 등, 주변의 빛과 함께 CCD 카메라로 들어오면서 이러한 빛이 중첩되어 무아레 무늬의 가시도에 영향을 미칠 수 있다. 이를 방지하기 위하여 암막과 검은색 펠트지를 설치해 외부 빛을 차단했을 경우에 그렇지 않은 경우보다 명도 값(grey scale)이 전체적으로 약 20 정도 낮아졌고, 명도대비 값은 암막 설치 전 18.
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참고문헌 (8)

  1. D. Post, B. Han, and P. Ifju, "High Sensitivity moire: Experimental Analysis for Mechanics and Materials", Springer Science & Business Media, New York, pp.119-130 (1994). 

  2. J. W. Joo, S. Cho, and B. Han, "Characterization of Flexural and Thermo- mechanical Behavior of Plastic Ball Grid Array Package Assembly Using Moire Interferometry", Micrelectronics Reliability, 45(4), 637 (2005). 

  3. B. H. Lee, and J. W Joo, "Assessment of Viscoplastic Deformation Behavior of Eutectic Solder and Lead-free Solder", J. Microelectron. Packag. Soc., 18(2), 17 (2011). 

  4. B. H. Lee, M. K. Kim, and J. W. Joo, "Thermo-mechanical Mehavior of WB-PBGA Packages with Pb-Sn Solder and Lead-free solder Using Moire Interferometry", J. Microelectron. Packag. Soc., 17(3), 17 (2010). 

  5. Y. J. Kang, W. J. Ryu, and Y. K. Kwon, A Study on the Improvement of Accurasy of Surface Measurement in the Phase-Shifting Shadow Moire Method", J. of KSPE, 15(10), 96 (1998). 

  6. S. M. Lee, and Y. Y. Earmme, "A Study on the Measurement of PWB Warpage Using Shadow Moire", Proc. KSME 2002 Meeting for Material & Fracture, 146 (2002). 

  7. D. S. Lee, and J. W. Joo, "Sensitivity Enhancement of Shadow Moire Technique for Warpage Measurement of Electronic Packages", J. Microelectron. Packag. Soc., 22(3), 57 (2015). 

  8. K. Creath, "Phase-measurement Interferometry Techniques", Progress in optics, 26, 349 (1988). 

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