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Molybdenum oxide ($MoO_3$) offers pivotal advantages for high optical transparency and low light reflection. Considering device fabrication, n-type $MoO_3$ semiconductor can spontaneously establish a junction with p-type Si. Since the energy bandgap of Si is 1.12 eV, a maximum ...

주제어

AI 본문요약
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제안 방법

  • 본 실험에서는 MoO3와 p type 실리콘간의 p-j 접합을 형성하고 전면 및 후면의 전극으로 Al을 이용하여 Al/MoO3/p-si/Al 구조의 산화물 반도체-반도체 이종 접합 IR 광검출기를 제작하였으며, MoO3의 광학 특성, 물질 특성 및 광검출기의 전기적 특성을 측정하고 분석하였다.
  • 본 연구에서는 magnetron sputtering system을 이용하여 전면 및 후면 전극으로는 내식성과 전기전도성이 뛰어난 Al을 사용하였으며, 높은 투과율과 낮은 반사율을 갖는 n-type 산화물 반도체 MoO3와 p-type 실리콘의 p-n junction을 이용한 Al/MoO3/p-si/Al 구조의 산화물 반도체-반도체 이종접합 기반의 IR 광 검출기를 제작하고 MoO3의 물질적 특성과 광검출기의 전기 및 광학적 특성을 분석하였다.

대상 데이터

  • MoO3의 경우에는 스퍼터링 타겟을 몰리브덴(Mo)으로 하여 p-type 실리콘과 glass 기판에 증착한 후, RTP (rapid thermal processing)을 통해 MoO3가 형성되게 하였다.
  • 본 실험에서는 MoO3의 광학적 특성을 분석하기 위해 투명한 glass 기판과 광검출기를 제작하기 위해 두께 525 μm의 p-type 실리콘을 사용했다.
  • 본 실험에서의 MoO3는 Magnetron sputtering system을 이용하여 Mo을 p-type 실리콘, glass 기판 위에 증착하고 RTP (rapid thermal processing)을 이용하여 산소(O2)를 주입하며 고온에서 급속열처리공정(550℃, 10분)을 통해 형성하였다. 이는 XRD와 JCPDS 분석을 통하여 확인하였다.
  • 전면 및 후면 전극으로는 내식성과 전기전도성이 좋은 Al을 사용하였으며 전면 전극을 증착할 때에는 섀도우 마스크(shadow mask)를 사용했다. 이는 최대한 많은 빛이 MoO3 표면으로 조사가 될 수 있게끔 하기 위함이다.

데이터처리

  • 광검출기에 형성된 MoO3의 두께를 확인하기 위해 전계 방출형 주사 현미경(FE-SEM)을 사용하였고, MoO3의 광학적 특성을 확인해 보기 위해 UV-vis spectro photometer (UV-2600)를 사용하여 투과율과 반사율을 측정했다. 또한 광검출기의 전기적 특성 및 광응답을 확인하기 위해 Keithly, LED, 광응답 장비(WonA, ZIVE SP1)를 이용했다.

이론/모형

  • 의 광학적 특성을 확인해 보기 위해 UV-vis spectro photometer (UV-2600)를 사용하여 투과율과 반사율을 측정했다. 또한 광검출기의 전기적 특성 및 광응답을 확인하기 위해 Keithly, LED, 광응답 장비(WonA, ZIVE SP1)를 이용했다.
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질의응답

핵심어 질문 논문에서 추출한 답변
광검출기란 무엇인가? 광검출기는 생체 의학에서부터 광학 저장 장치에 이르기까지 다양한 응용 분야에 필수적인 광전자 장치이다 [1]. 반도체 기반의 자외선, 가시광 및 적외선 범위의 광검출기는 실리콘 기반의 광검출기 장치로 발전했다 [2].
산화 몰리브덴이 고급 응용 분야에 사용되는 이유는 무엇인가? MoO3은 매우 높은 일함수를 갖는데, 이는 태양 전지, 유기 전자 장치등의 흡수체 물질에 있는 정공 수집에 유리하여 고성능을 위한 hall contact으로 광범위하게 연구되고 있다 [8,9]. 또한 아주 높은 녹는 점, 전기 전도도, 인성을 가져 촉매, 센서, 포토크로믹, 일렉트로크로믹 재료 등과 같은 고급 응용 분야에 사용된다 [10].
적외선 광검출기의 특징은 무엇인가? 적외선 광검출기는 광통신, 열 이미징 및 센서 네트워킹의 중요한 하나의 요소이며, 최근에는 원적외선 이미징 및 실온에서의 작동에서 사용 가능하기 때문에 많은 주목을 받고 있다. 850 nm 이하에서 높은 응답성을 나타내는 광검출기의 파장 스펙트럼을 확장하면 천문학, 국방, 의료 진단 및 위성지도 작성 분야에 도움이 된다 [6].
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참고문헌 (13)

  1. J. M. Shieh, Y. F. Lai, W. X. Ni, H. C. Kuo, C. Y. Fang, J. Y. Huang, and C. L. Pan, Appl. Phys. Lett., 90, 051105 (2007). [DOI: https://doi.org/10.1063/1.2450653] 

  2. H. S. Bae, M. H. Yoon, J. H. Kim, and S. Im, Appl. Phys. Lett., 83, 5313 (2003). [DOI: http://dx.doi.org/10.1063/1.1633676] 

  3. E. Chen and S. Y. Chou, Appl. Phys. Lett., 70, 753 (1997). [DOI: http://doi.org/10.1063/1.118270] 

  4. O. M. Nayfeh, S. Rao, A. Smith, J. Therrien, and M. H. Nayfeh, IEEE Photonics Technol. Lett., 16, 1927 (2004). [DOI: https://doi.org/10.1109/LPT.2004.831271] 

  5. J. M. Choi and S. Im, Appl. Surf. Sci., 244, 435 (2005). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.apsusc.2004.09.152] 

  6. M. Zyaei, H. R. Saghai, K. Abbasian, and A. Rostami, Opt. Commun., 281, 3739 (2008). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.optcom.2008.03.036] 

  7. D. Mutschau, K. Holzner, and E. Obermeier, Sens. Actuators, B, 36, 320 (1996). [DOI: https://doi.org/10.1016/S0925-4005(97)80089-5] 

  8. J. Bullock, D. Yan, A. Cuevas, Y. Wan, and C. Samundsett, Energy Procedia, 77, 446 (2015). [DOI: https://doi.org/10.1016/j.egypro.2015.07.063] 

  9. C. Zhao, Z. Liang, M. Su, P. Liu, W. Mai, and W. Xie, ACS Appl. Mater. Interfaces, 7, 25981 (2015). [DOI: https://doi.org/10.1021/acsami.5b09492] 

  10. J. Zhou, N. S. Xu, S. Z. Deng, J. Chen, J. C. She, and Z. L. Wang, Adv. Mater., 15, 1835 (2003). [DOI: https://doi.org/10.1002/adma. 200305528] 

  11. W. H. Park, D. K. Ban, H. Kim, H. S. Kim, M. Patel, J. H. Yoo, and J. Kim, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 29, 445 (2016). [DOI: http://dx.doi.org/10.4313/JKEM.2016.29.7.445] 

  12. W. H. Park and J. D. Kim, J. Korean Inst. Electr. Electron. Mater. Eng., 29, 720 (2016). [DOI: http://dx.doi.org/10.4313/JKEM.2016.29.11.720] 

  13. W. S. Choi, Trans. Electr. Electron. Mater., 12, 267 (2011). [DOI: https://doi.org/10.4313/TEEM.2011.12.4.267] 

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