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NTIS 바로가기전기학회논문지 = The Transactions of the Korean Institute of Electrical Engineers, v.66 no.7, 2017년, pp.1100 - 1104
최학영 (Dept. of Electronics and Computer Engineering, Seokyeong University) , 서기성 (Dept. of Electronics Engineering, Seokyeong University)
A detector-based approach shows the limited performances for the defect inspections such as shallow fine cracks and indistinguishable defects from background. Deep learning technique is widely used for object recognition and it's applications to detect defects have been gradually attempted. Deep lea...
* AI 자동 식별 결과로 적합하지 않은 문장이 있을 수 있으니, 이용에 유의하시기 바랍니다.
핵심어 | 질문 | 논문에서 추출한 답변 |
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CNN은 어떤 구조로 구성되어 있는가? | CNN의 구조는 다음과 같이 구성된다. 그림 1과 같이 층 사이의 노드 쌍들 중 일부만 연결하는 컨볼루션층(convolution layer)과 다운 샘플링 층(pooling layer)이 교대로 반복되며 특징 추출에 관여하고, 후반부에 분류 목적에 사용되는 층 사이의 노드를 모두 연결하는 완전연결 층(fully connected layer)이 위치한다. | |
VOV기법은 어떻게 결함을 검출하는가? | VOV는 특정 크기를 가지는 윈도우를 이동 및 탐색하면서 영상에서의 변화량이 많은 부분을 1차적으로 분류한다. 검출 방법은 영상의 세로축과 가로축의 픽셀 분산값이 큰 부분을 검출한다[9]. | |
CNN의 모델중 AlexNet은 어떤 구조로 구성되어 있는가? | 그림 4의 상단과 같이 AlexNet은 3개의 conv 층, 2개의 pooling 층, 2개의 FC(fully connected)층으로 구성된다. AlexNet 에서는 데이터의 평균을 구하고 전체 데이터를 평균과 빼서 학습과 평가에 적용하는 Zero-centered, Vanishing Gradient 문제를 해결할 수 있는 ReLU(Rectified Linear Unit) function, Overlapping Pooling 등이 새로 도입되었다. |
Y. Park, and I. S. Kweon "Ambiguous Surface Defect Image Classification of AMOLED Displays in Smartphones," IEEE Trans. on Industrial Informatics, Vol. 12, No. 2, pp. 597-607, 2016
J-K. Park, N. Kwon, J-H. and D. Kang "Machine Learning-Based Imaging System for Surface Defect Inspection," International Journal of Precision Engineering and Manufacturing-Green Technology, Vol. 3, No. 3, pp. 303-310, 2016
H. Choi and K. Seo, "CNN Based Detection of Surface Defects for Electronic Parts," Journal of Korean Institute of Intelligent Systems, Vol. 27, No. 3, pp. 2017.
LeCun, Yann, et al. "Gradient based learning applied to document recognition," Proceedings of the IEEE, pp. 2278-2324, 1998
A. Krizhevsky, I. Sutskever, and G. Hinton. "ImageNet classification with deep convolutional neural networks.", In NIPS, 2012.
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K. He, X. Zhang, S. Ren, J. Sun, "Deep Residual Learning for Image Recognition," CVPR 2016
B.-K Kwon, J.-S. Won, D.-J. Kang. "Fast defect detection for various types of surfaces using random forest with VOV features". International Journal of Precision Engineering and Manufacturing, Vol. 16, No. 5, pp. 965-970, 2015
R. Girshick, J. Donahue, T. Darrell, J. Malik, "Region-Based Convolutional Networks for Accurate Object Detection and Segmentation," IEEE Trans. on Pattern Analysis and Machine Intelligence, Vol. 38, No. 1. pp. 142-158. 2016
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Kaiming He, Xiangyu Zhang, Shaoqing Ren, Jian Sun, "Spatial Pyramid Pooling in Deep Convolutional Networks for Visual Recognition," arXiv:1406.472
Shaoqing Ren, Kaiming He, Ross Girshick, Jian Sun, "Faster R-CNN: Towards Real-Time Object Detection with Region Proposal Networks," arXiv:1506.01497
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