$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

3D Process Integration - Wafer-to-Wafer and Chip-to-Wafer Bonding

Materials Research Society symposia proceedings, v.970, 2006년, pp.0970-Y04-08 -   

Matthias, Thorsten ,  Wimplinger, Markus ,  Pargfrieder, Stefan ,  Lindner, Paul

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

ABSTRACTMany feasibility and design studies during the last years have shown that devices based on 3D chip stacking and integration can significantly outperform traditional planar (2D) devices. Furthermore, as packaging of the devices is a major cost factor, the possibility to integrate multiple fun...

참고문헌 (15)

  1. 10.1557/PROC-812-F6.16 11. Kwon Y. , Yu J. , McMahon J.J. , Lu J.-Q. , Cale T.S. , Gutmann R.J. , “Evaluation of Thin Dielectric-Glue Wafer-Bonding for Three Dimensional Integrated Circuit-Applications”, Mat. Res. Soc. Symp. Proc. Vol. 812, F6.16.1 

  2. Wafer bonding Using Low-K Dielectrics as Bonding Glue in Three-Dimensional Integration 2 2001 Kwon 

  3. 6. Niklaus F. et al., “Fine Keyed Alignment and Bonding for Wafer-Level 3D ICs”, MRS Symposium Proc. 0914-F10-05 

  4. 5. Kernevez N. , “Ultra-thin chip stacking for 3D interconnect”, Proc. 3D Architectures for Semiconductor Integration and Packaging 2006, Burlingame 2006 

  5. 4. Matthias T. et. al., “SiP and 3-D Interconnects”, Advanced Packaging Magazine Aug./Sept. 2006, p32-37 

  6. 3-D Interconnects using Cu Wafer Bonding: Technology and Applications 1 2002 Reif 

  7. 9. Morrow P. , Kobrinsky M. , Ramanathan S. , Park C. , Harmes M. , Ramachandrarao V. , Park H. , Kloster G. , List S. , Kim S. , proceedings of Advanced Metallization Conference 2004 

  8. Dragoi, Viorel, Farrens, Sharon. Low Temperature MEMS Manufacturing Processes: Plasma Activated Wafer Bonding. Materials Research Society symposia proceedings, vol.872, J7.1-.

  9. 12. Niklaus Frank , “Adhesive wafer bonding for microelectronic and microelectromechanical systems”, PhD Thesis, Stockholm, 2002 

  10. 10.1109/IITC.2004.1345704 

  11. 3. Matthias T. et.al., “Trends in aligned wafer bonding for MEMS and IC wafer-level packaging and 3D interconnect technologies”, Proc. of IWLPC 2004, San Jose 2004 

  12. Dielectric adhesive wafer bonding for back-end wafer-level 3D hyper-integration 3 2004 Lu 

  13. Chen, K. N., Tan, C. S., Fan, A., Reif, R.. Morphology and Bond Strength of Copper Wafer Bonding. Electrochemical and solid-state letters, vol.7, no.1, G14-.

  14. High Performance Temporary Adhesives for Wafer Bonding Applications 2006 10.1557/PROC-0970-Y04-09 Puligadda 

  15. Face-to-face chip integration with full metal interface 2002 Hubner 

관련 콘텐츠

저작권 관리 안내
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로