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Low-temperature smoothing method of scalloped DRIE trench by post-dry etching process based on SF6 plasma 원문보기

Micro and nano systems letters, v.8 no.1, 2020년, pp.14 -   

Park, Jin Soo ,  Kang, Dong-Hyun ,  Kwak, Seung Min ,  Kim, Tae Song ,  Park, Jung Ho ,  Kim, Tae Geun ,  Baek, Seung-Hyub ,  Lee, Byung Chul

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

AbstractDeep reactive-ion etching (DRIE) is commonly used for high aspect ratio silicon micromachining. However, scalloping, which is the result of the alternating Bosch process of DRIE, can cause many problems in the subsequent process and degrade device performance. In this work, we propose a simp...

참고문헌 (15)

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