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NTIS 바로가기Journal of nanoscience and nanotechnology, v.16 no.5, 2016년, pp.5092 - 5095
Kang, Jonghyuk , Lee, Sungho , Choi, Byoungdeog
This work proposes a sequence of tests for detecting refresh weak cells based on data retention time distribution in the main cell array of DRAMs and verify the feasibility of the proposed method through analysis of 30 nm design-rule DRAM cells with Recess Channel Array Transistor (RCAT) and Buried ...
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