$\require{mediawiki-texvc}$

연합인증

연합인증 가입 기관의 연구자들은 소속기관의 인증정보(ID와 암호)를 이용해 다른 대학, 연구기관, 서비스 공급자의 다양한 온라인 자원과 연구 데이터를 이용할 수 있습니다.

이는 여행자가 자국에서 발행 받은 여권으로 세계 각국을 자유롭게 여행할 수 있는 것과 같습니다.

연합인증으로 이용이 가능한 서비스는 NTIS, DataON, Edison, Kafe, Webinar 등이 있습니다.

한번의 인증절차만으로 연합인증 가입 서비스에 추가 로그인 없이 이용이 가능합니다.

다만, 연합인증을 위해서는 최초 1회만 인증 절차가 필요합니다. (회원이 아닐 경우 회원 가입이 필요합니다.)

연합인증 절차는 다음과 같습니다.

최초이용시에는
ScienceON에 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 로그인 (본인 확인 또는 회원가입) → 서비스 이용

그 이후에는
ScienceON 로그인 → 연합인증 서비스 접속 → 서비스 이용

연합인증을 활용하시면 KISTI가 제공하는 다양한 서비스를 편리하게 이용하실 수 있습니다.

[해외논문] Understanding and Optimization of Pulsed SET Operation in HfOx-Based RRAM Devices for Neuromorphic Computing Applications 원문보기

IEEE electron device letters : a publication of the IEEE Electron Devices Society, v.39 no.5, 2018년, pp.672 - 675  

Padovani, Andrea (MDLab s.r.l., Reggio Emilia, Italy) ,  Woo, Jiyong (Department of Materials Science and Engineering, Pohang University of Science and Technology, Pohang, South Korea) ,  Hwang, Hyunsang (Department of Materials Science and Engineering, Pohang University of Science and Technology, Pohang, South Korea) ,  Larcher, Luca (Dipartimento di Scienze e Metodi dell’Ingegneria, Universita di Modena e Reggio Emilia, Reggio Emilia, Italy)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

We use experiments and device simulations to investigate pulsed SET operation of HfO2-based RRAM devices for their possible use as electronic synapses. The application of a train of identical pulses only allows for an abrupt change of the device current, which is not suitable for synaptic devices. B...

참고문헌 (19)

  1. Woo, Jiyong, Moon, Kibong, Song, Jeonghwan, Lee, Sangheon, Kwak, Myounghun, Park, Jaesung, Hwang, Hyunsang. Improved Synaptic Behavior Under Identical Pulses Using AlOx/HfO2 Bilayer RRAM Array for Neuromorphic Systems. IEEE electron device letters : a publication of the IEEE Electron Devices Society, vol.37, no.8, 994-997.

  2. Ginestra Software 2017 

  3. Padovani, Andrea, Larcher, Luca, Pirrotta, Onofrio, Vandelli, Luca, Bersuker, Gennadi. Microscopic Modeling of HfOx RRAM Operations: From Forming to Switching. IEEE transactions on electron devices, vol.62, no.6, 1998-2006.

  4. Ielmini, D.. Modeling the Universal Set/Reset Characteristics of Bipolar RRAM by Field- and Temperature-Driven Filament Growth. IEEE transactions on electron devices, vol.58, no.12, 4309-4317.

  5. Long, Shibing, Lian, Xiaojuan, Cagli, Carlo, Perniola, Luca, Miranda, Enrique, Liu, Ming, Suñé, Jordi. A Model for the Set Statistics of RRAM Inspired in the Percolation Model of Oxide Breakdown. IEEE electron device letters : a publication of the IEEE Electron Devices Society, vol.34, no.8, 999-1001.

  6. 10.1109/IPFA.2014.6898205 

  7. Raghavan, N.. Application of the defect clustering model for forming, SET and RESET statistics in RRAM devices. Microelectronics reliability, vol.64, 54-58.

  8. Lanza, Mario. A Review on Resistive Switching in High-k Dielectrics: A Nanoscale Point of View Using Conductive Atomic Force Microscope. Materials, vol.7, no.3, 2155-2182.

  9. Nminibapiel, David M., Veksler, Dmitry, Shrestha, Pragya R., Kim, Ji-Hong, Campbell, Jason P., Ryan, Jason T., Baumgart, Helmut, Cheung, Kin P.. Characteristics of Resistive Memory Read Fluctuations in Endurance Cycling. IEEE electron device letters : a publication of the IEEE Electron Devices Society, vol.38, no.3, 326-329.

  10. Nminibapiel, David M., Veksler, Dmitry, Shrestha, Pragya R., Campbell, Jason P., Ryan, Jason T., Baumgart, Helmut, Cheung, Kin P.. Impact of RRAM Read Fluctuations on the Program-Verify Approach. IEEE electron device letters : a publication of the IEEE Electron Devices Society, vol.38, no.6, 736-739.

  11. IEEE IEDM Tech Dig Phase change memory as synapse for ultra-dense neuromorphic systems: Application to complex visual pattern extraction suri 2011 4.4.1 

  12. Kuzum, Duygu, Yu, Shimeng, Philip Wong, H-S. Synaptic electronics: materials, devices and applications. Nanotechnology, vol.24, no.38, 382001-.

  13. Ielmini, D., Nardi, F., Balatti, S.. Evidence for Voltage-Driven Set/Reset Processes in Bipolar Switching RRAM. IEEE transactions on electron devices, vol.59, no.8, 2049-2056.

  14. Shimeng Yu, Yi Wu, Jeyasingh, R., Kuzum, D., Wong, H. P.. An Electronic Synapse Device Based on Metal Oxide Resistive Switching Memory for Neuromorphic Computation. IEEE transactions on electron devices, vol.58, no.8, 2729-2737.

  15. 10.1109/ISCAS.2016.7527253 

  16. 10.1109/IEDM.2012.6479018 

  17. Merolla, Paul A., Arthur, John V., Alvarez-Icaza, Rodrigo, Cassidy, Andrew S., Sawada, Jun, Akopyan, Filipp, Jackson, Bryan L., Imam, Nabil, Guo, Chen, Nakamura, Yutaka, Brezzo, Bernard, Vo, Ivan, Esser, Steven K., Appuswamy, Rathinakumar, Taba, Brian, Amir, Arnon, Flickner, Myron D., Risk, William P., Manohar, Rajit, Modha, Dharmendra S.. A million spiking-neuron integrated circuit with a scalable communication network and interface. Science, vol.345, no.6197, 668-673.

  18. Garbin, Daniele, Vianello, Elisa, Bichler, Olivier, Rafhay, Quentin, Gamrat, Christian, Ghibaudo, Gerard, DeSalvo, Barbara, Perniola, Luca. HfO2-Based OxRAM Devices as Synapses for Convolutional Neural Networks. IEEE transactions on electron devices, vol.62, no.8, 2494-2501.

  19. Jiyong Woo, Padovani, Andrea, Kibong Moon, Myounghun Kwak, Larcher, Luca, Hyunsang Hwang. Linking Conductive Filament Properties and Evolution to Synaptic Behavior of RRAM Devices for Neuromorphic Applications. IEEE electron device letters : a publication of the IEEE Electron Devices Society, vol.38, no.9, 1220-1223.

LOADING...

관련 콘텐츠

오픈액세스(OA) 유형

GREEN

저자가 공개 리포지터리에 출판본, post-print, 또는 pre-print를 셀프 아카이빙 하여 자유로운 이용이 가능한 논문

유발과제정보 저작권 관리 안내
섹션별 컨텐츠 바로가기

AI-Helper ※ AI-Helper는 오픈소스 모델을 사용합니다.

AI-Helper 아이콘
AI-Helper
안녕하세요, AI-Helper입니다. 좌측 "선택된 텍스트"에서 텍스트를 선택하여 요약, 번역, 용어설명을 실행하세요.
※ AI-Helper는 부적절한 답변을 할 수 있습니다.

선택된 텍스트

맨위로