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MEMS-based Ni–B probe with enhanced mechanical properties for fine pitch testing 원문보기

Micro and nano systems letters, v.5 no.1, 2017년, pp. -   

Kim, Kyongtae ,  Kwon, Hong-Beom ,  Ahn, Hye-Rin ,  Kim, Yong-Jun

초록이 없습니다.

참고문헌 (12)

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