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NTIS 바로가기한국표면공학회지 = Journal of the Korean institute of surface engineering, v.48 no.6, 2015년, pp.253 - 259
조은상 (한국산업기술대학교 신소재공학과) , 정대곤 (한국산업기술대학교 신소재공학과) , 조진기 (한국산업기술대학교 신소재공학과)
The test equipment becomes more important with the development of semiconductor industry. MEMS probe is an important testing component to detect the defects from the generated electric signal when it contacts the metal pad of semiconductor devices. Ni-Pd alloy has been paid attention to as a candida...
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