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NTIS 바로가기대한전자공학회 2003년도 하계종합학술대회 논문집 II, 2003 July 01, 2003년, pp.703 - 706
한영신 (성균관대학교 정보통신공학부 컴퓨터공학과) , 황미영 (성균관대학교 정보통신공학부 컴퓨터공학과) , 이칠기 (성균관대학교 정보통신공학부 컴퓨터공학과)
Yield enhancement in semiconductor fabrication is important. It is ideal to prevent all the failures. However, when a failure occurs, it is important to quickly specify the cause stage and take countermeasure. The automatic method of failure pattern extraction from fail bit map provides reduced time...
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