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문제 정의
- 따라서 본 연구에서는 사례기반 주론 기법을 이용하여 반도체 패 키징 공장에서 수집 된 개 별 Lot들의 생 산관련 데이터를 바탕으로 각 Lot들의 싸이클 타임을 예즉하고자 한다.
- b형 제품은 1, 2, 4, 6, 9 번 공정을 거쳐 작업이 마무리 된다고 한다면, 기계에 따라 제품에 따라 UPHe도 다르고 투입된 lot가 생산공정을 거쳐 가는 동안 WIP는 계속 변화한다. 본 연구에서는 이러한 문제상황 하에서 제품의 유형에 따라 부여된 범주형 변수와 WIP를 나타내는 숫자형 변수를 입력변수로 하여 사례기반 추론을 통해 싸이클타임을 예측해 보고자 한다.
- 있다. 본 연구에서는 정수형 Threshold를 1부터 7까지 변경하며 최적값을 찾고자 하였다.
- 우리는 각 Lot별로 기록된 작업 시작 시간과 종료시간을 바탕으로 특정 Lot가 첫 공정에 들어갈 시점에 생산라인 전체의 WIP를 도출했으며 이를 바탕으로 생산공정이 비슷하면서 WIP상태가 유사한 Lot 의 기록을 찾아 새로이 직면한 문제의 싸이클 타임을 예측하고자 했다. 5개 범주형 변수와 37개 연속형변수로 이루어져 있으며 각 변수들에 대한 설명은 < 표 1>과 같다.
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