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NTIS 바로가기한국신뢰성학회 2005년도 학술발표대회 논문집, 2005 June 01, 2005년, pp.339 - 348
이덕보 (한국표준협회 신뢰성기술경영연구원) , 김정현 (한양대학교 신뢰성분석연구센터) , 강수근 (한양대학교 신뢰성분석연구센터) , 김상도 (한양대학교 신뢰성분석연구센터) , 장석원 (한양대학교 신뢰성분석연구센터) , 임재훈 (삼성전자 생활가전 총괄시스템 가전사업부 Global CS팀 냉장고 CS그룹) , 유동수 (삼성전자 생활가전 총괄시스템 가전사업부 Global CS팀 냉장고 CS그룹)
In evaluation of electronic reliability on the PCB(Printed Circuit Board),electrochemical migration is one of main test objects. The phenomenon of electrochemical migration occurs In the environment of the high humidity and the high temperature under bias through a continuous aqueous electrolyte. In...
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