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[국내논문] 박막 재료의 면저항 측정기 개발
A Development of Sheet Resistance Meter for Thin Film Materials 원문보기

한국전기전자재료학회 2009년도 하계학술대회 논문집 Vol.10, 2009 June 18, 2009년, pp.233 - 234  

강전홍 (한국표준과학연구원) ,  유광민 (한국표준과학연구원) ,  김한준 (한국표준과학연구원) ,  한상옥 (충남대학교)

초록
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박막 재료의 면저항 측정은 일반적으로 FPP(Four-Point Probe)원리를 적용한 측정기률 사용하고 있다. 개발된 면저항 측정기의 특징은 dual configuration 기술을 적용하여 탐침 간격에 대한 시료의 크기 및 두께에 대한 보정계수를 고려하지 않아도 되므로 누구나 업고 정확하게 사용 할 수 있다. 측정범위는 $1\;m{\Omega}{/\square}\;{\sim}\;1\;G{\Omega}{/\square}$이며, 반복성과 재현성직선성은 0.1 %이하로서 우수한 특성을 나타냈다. 또한 기존의 면저항 측정기에 적용된 single configuration 기술에서 나타나는 가장자리 효과의 단점을 dual configuration 기술을 적용하여 해결하였고 정밀 정확도를 향상시켰다. 개발된 면저항 측정기의 특성평가는 국가측정표준으로부터 소급성이 유지된 표준저항, 분할저항기, 면저항 인증표준물질 등을 사용하였다.

AI 본문요약
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제안 방법

  • 한다. 따라서 개발된 면저항 측정기의 성능평가률 위해 국가측정표준으로부터 저항의 소급성이 유지된 분할저항기 (decade resistor, model: ESI DB62, 불홖도: 0.005 %)룔 사용하여 저항(R)기능을 평가하였다. 반복성, 안정도 및 재현성, 평가는 면저항측정기 p「아)e의 4단자와 분할저항기의 4단자에 연결한 후 측정을 반복하여 특성을 확인하였으며, 그 결과 이하의 정확도를 나타냈다.
  • 반복성, 안정도 및 재현성, 평가는 면저항측정기 p「아)e의 4단자와 분할저항기의 4단자에 연결한 후 측정을 반복하여 특성을 확인하였으며, 그 결과 이하의 정확도를 나타냈다. 또한 측정 정확도는 국가 측정표준의 소급성이 유지된 면저항 표준기준물을 이용하여.특성을 확인하였으며帰 그 결과 0.
  • 것으로 알려져 있다. 또한 해우 고가여서 경제적인 부담과 축정기에 문제가 발생한 경우 신속한 대응이 어려우므로 외산에 비해 저렴하고 동등 이상의 성능을 갖는 면저항 측정기의 국산화 *발아 절실히 요구된다, 따라서 누구나 쉽고 정확하게 사용 할 수 있는 dual configuration 기술을 적용한 면저항 측정기詈 개발하였다.
  • 박막재료의 면저항율 누구나 쉽고 정확하게 측정할 수 있는 면저항 측정기를 개발하였다. 측정기능은 저항(R), 면저항(Q/sq) 비저항(Q心)이며 면저항의 츢정범위는 1 mQ/sq.
  • 측정기의 전류원은 10 nA, 100 nA, 1 10 虬 100 以, 1 澈, 10 mA, 100 mA 이며, 측정 전압은 10 mV 〜100 mV 범위에서 흑정되도록 하였다. 측정기능믄 저항(R), 면저항(Q/않q.

이론/모형

  • Four-Point 円아圮법의 원리를 바탕으로 sin이e 및 dual configuration 기술을 적용하여 설계 제작하였다. 측정기의 전류원은 10 nA, 100 nA, 1 10 虬 100 以, 1 澈, 10 mA, 100 mA 이며, 측정 전압은 10 mV 〜100 mV 범위에서 흑정되도록 하였다.
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