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NTIS 바로가기SoC Design Conference, 2008. ISOCC `08. International, v.01, 2008년, pp.I-370 - I-375
Hyunjun Yoon (Dept. of Electr.&) , Myung-Hoon Yang (Electron. Eng., Yonsei Univ., Seoul) , Yongjoon Kim (Dept. of Electr.&) , Youngkyu Park (Electron. Eng., Yonsei Univ., Seoul) , Jaeseok Park (Dept. of Electr.&) , Sungho Kang (Electron. Eng., Yonsei Univ., Seoul)
This paper presents the design and implementation of a new parallel Algorithmic Pattern Generator (ALPG) of Automatic Test Equipment (ATE) for the high speed memory testing. We implemented the Instruction Analyzer (IA) that unrolls the instructions using simple instructions. And, unrolled instructio...
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