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NTIS 바로가기국가/구분 | European Patent Office(EP) / A2 공개 |
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국제특허분류(IPC7판) |
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출원번호 | EP-0117204 (1986-12-10) |
공개번호 | EP-0225642 (1987-06-16) |
우선권정보 | JP-0280653 (1985-12-13) |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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A memory test pattern generator is disclosed, which generates a memory test pattern by reading out data from a microinstruction program memory (1) according to an instruction of an address counter (2) and causing an address generator (4), a data generator (5) and a timing generator (16) to generate
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