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연합인증

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LCD 검사 장치 및 촬상 소자의 검사 장치 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G02F-001/13
출원번호 10-2004-0034340 (2004-05-14)
공개번호 10-2004-0099159 (2004-11-26)
등록번호 10-0691087-0000 (2007-02-27)
DOI http://doi.org/10.8080/1020040034340
발명자 / 주소
  • 아사카와진 / 일본야마나시켄니라사키시후지이쵸기타게죠****-*동경엘렉트론에이티주식회사나이
  • 아키야마슈지 / 일본야마나시켄니라사키시후지이쵸기타게죠****-*동경엘렉트론에이티주식회사나이
출원인 / 주소
  • 도쿄엘렉트론가부시키가이샤 / 일본 도쿄도 미나토쿠 아카사카 *쵸메 *반 *고
대리인 / 주소
  • 김창세 (KIM, Chang Se)
  • 서울 서초구 양재동 ***-* 트러스트타워**층(제일광장특허법률사무소)
심사청구여부 있음 (2004-05-14)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 소멸

초록

본 발명은, 피검사체를 탑재하기 위한 탑재대에 있어서, 적어도 1개의 피검사체(S1)를 탑재하기 위한 탑재용 기판과, 상기 탑재대상의 피검사체의 이면을 조명하기 위한 복수의 점광원을 구비하는 광원과, 상기 광원으로부터의 광을 확산시켜서 상기 피검사체의 이면에 조사하는 확산 기구를 포함하는 탑재대를 제공한다. 또한, LCD 패널의 특성을 검사하기 위한 LCD 검사 장치에 있어서, 적어도 1개의 LCD 패널을 탑재한 상기 탑재대와, 상기 LCD 패널에 점등 검사용의 신호를 인가하는 신호 인가 기구와, 상기 LCD 패널의 표면을 촬상하

대표청구항

피검사체를 탑재하기 위한 탑재대에 있어서,적어도 1개 피검사체(S1)를 탑재하기 위한 탑재용 기판과,상기 탑재대상의 피검사체의 이면을 조명하기 위한 복수의 점광원을 구비하는 광원과, 상기 광원으로부터의 광을 확산시켜서 상기 피검사체의 이면에 조사하는 확산 기구를 포함하는탑재대.

발명자의 다른 특허 :

이 특허를 인용한 특허 (4)

  1. [한국] 발광 소자 검사 장치 | 김상민, 유광룡
  2. [한국] 디스플레이 패널 검사 방법 및 그 장치 | 이상민
  3. [한국] 결함 검출장치 및 그의 동작방법 | 이형진, 김대홍, 양성훈, 오세윤
  4. [한국] 디스플레이 패널의 에이징 테스트 시스템 및 방법 | 투 아이궈, 팡 춘-시웅, 우 쑹-위안, 리 진촨, 지앙 리앙, 웨이 펭
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