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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 |
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국제특허분류(IPC9판) |
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출원번호 | 10-2008-7017723 (2008-07-18) |
공개번호 | 10-2008-0080397 (2008-09-03) |
등록번호 | 10-1008543-0000 (2011-01-10) |
국제출원번호 | PCT/JP2006/326038 (2006-12-27) |
국제공개번호 | WO2007077865 (2007-07-12) |
번역문제출일자 | 2008-07-18 |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020087017723 |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2008-07-18) |
심사진행상태 | 등록결정(일반) |
법적상태 | 소멸 |
본 발명은 고감도로 자속 밀도가 직접 검출될 수 있고, 소비 전력이나 소비 전류의 적은 미소한 InSb 박막 자기 센서에 이용되는 박막 적층체 및 InSb 박막 자기 센서에 관한 것이다. InSb 박막을 자기 센서부, 또는 자계 검출부로 한 InSb 박막 자기 센서이다. 기판(1) 상에 형성된 InSb 박막인 InSb 동작층(3)과, 이 InSb 동작층(3)보다 고저항 또는 절연성 또는 p형의 전도성을 나타내고, 밴드갭이 InSb보다 큰 층인 AlxGayIn1-x-ySb 혼정층(0≤x, y≤1)(2)을 구비하고 있다. 혼정층(2)은
기판 상에 형성된 InSb 박막인 InSb층; 및상기 InSb층보다 고저항 또는 절연성을 나타내고, 밴드갭이 InSb보다 큰 층인 AlxGayIn1-x-ySb 혼정층(0≤x, y≤1)을 구비하고;상기 InSb층은 상기 혼정층과의 헤테로 계면에 저전자이동도층을 갖는 박막적층체이고,상기 혼정층은 상기 기판과 상기 InSb층 사이에 제공되고, Al과 Ga의 원자의 함유율(x+y)이 5.0%로부터 17%의 범위(0.05≤x+y≤0.17) 또는 상기 InSb층과 접하는 상기 혼정층의 격자 부정합이 0.25%로부터 1.0%의 범위인 것을 특징
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