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연합인증

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포토레지스트 패턴 세정 및 보호막 형성용 조성물 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G03F-007/42
  • C11D-003/30
  • G03F-007/40
  • H01L-021/027
출원번호 10-2011-0028074 (2011-03-29)
공개번호 10-2012-0110301 (2012-10-10)
등록번호 10-1855505-0000 (2018-04-30)
DOI http://doi.org/10.8080/1020110028074
발명자 / 주소
  • 장유진 / 경기도 화성시 향남읍 신광길 **-*, ***호 (동우빌라)
  • 이정열 / 경기도 안양시 만안구 안양천서로 *** **동 ***호 (안양동,진흥아파트)
  • 이재우 / 경기도 부천시 원미구 장말로 ***, ****동 ****호 (상동, 반달마을)
  • 김재현 / 서울특별시 서초구 서초중앙로 *** *동 ***호 (서초동,삼풍아파트)
출원인 / 주소
  • 주식회사 동진쎄미켐 / 인천광역시 서구 백범로 *** (가좌동)
대리인 / 주소
  • 이상헌
심사청구여부 있음 (2016-03-28)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

이중 노광 패터닝 공정에서 포토레지스트 패턴 세정 및 세정 후 가열에 의해 포토레지스트 패턴 위에 보호막을 형성시키거나, 패턴 수축(shrinkage) 공정에서 선폭(critical dimension: CD)을 증가시킬 수 있는 조성물 및 이를 이용한 반도체 소자의 미세 패턴 형성 방법이 개시된다. 상기 포토레지스트 패턴 세정 및 보호막 형성용 조성물은 하기 화학식 1로 표시되는 가교제; 산촉매제; 계면활성제; 및 용매를 포함한다.[화학식 1] 상기 화학식 1에서, R1은 헤테로 원소를 0 내지 5개 포함하는 탄소수 1 내지 15의

대표청구항

하기 화학식 1로 표시되는 가교제; 산촉매제; 계면활성제; 및 용매를 포함하는 포토레지스트 패턴 세정 및 보호막 형성용 조성물.[화학식 1]상기 화학식 1에서, R1은 헤테로 원소를 0 내지 5개 포함하는 탄소수 1 내지 15의 사슬형 또는 탄소수 3 내지 15의 분지형 또는 고리형 구조의 아로마틱 또는 알리파틱 탄화수소이고, n은 2 내지 6의 정수이다.

발명자의 다른 특허 :

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