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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 | |
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국제특허분류(IPC9판) |
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출원번호 | 10-2013-0055537 (2013-05-16) | |
공개번호 | 10-2013-0132277 (2013-12-04) | |
우선권정보 | 일본(JP) JP-P-2012-118636 (2012-05-24) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020130055537 | |
발명자 / 주소 | ||
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2013-05-16) | |
심사진행상태 | 포기(등록료 미납) | |
법적상태 | 포기 |
안정적으로 높은 파티클 제거율을 얻을 수 있는 초음파 세정 방법 및 초음파 세정 장치를 제공한다.초음파 세정 방법은, 기체가 용존된 액체에 초음파를 조사함으로써 액체 중의 세정 대상물을 세정하기 위한 초음파 세정 방법으로서 이하의 공정을 갖고 있다.기체가 용존된 액체가 준비된다(S10).초음파를 조사하지 않는 경우와 비교하여 기체가 용존된 액체의 굴절률의 공간 변화율이 큰 영역이, 초음파의 진행 방향을 따라 출현하도록 액체에 초음파를 조사하면서 세정 대상물이 세정된다(S40).
기체가 용존된 액체에 초음파를 조사함으로써 상기 액체 중의 세정 대상물(W)을 세정하기 위한 초음파 세정 방법으로서:- 상기 기체가 용존된 상기 액체를 준비하는 공정;- 초음파를 조사하지 않는 경우와 비교하여 상기 기체가 용존된 상기 액체의 굴절률의 공간 변화율이 큰 영역이, 초음파의 진행 방향을 따라 출현하도록 상기 액체에 초음파를 조사하면서 상기 세정 대상물(W)을 세정하는 공정을 포함하는 초음파 세정 방법.
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