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연합인증

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고밀도 선형 유도 결합형 플라즈마 소스 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • H01J-037/32
출원번호 10-2018-0024264 (2018-02-28)
공개번호 10-2019-0104080 (2019-09-06)
등록번호 10-2045059-0000 (2019-11-08)
DOI http://doi.org/10.8080/1020180024264
발명자 / 주소
  • 김용환 / 경기도 고양시 일산동구 강송로 **, ***동 ****호(백석동, 일산와이시티)
출원인 / 주소
  • 주식회사 인포비온 / 서울시 영등포구 문래동 *가 *-*번지
대리인 / 주소
  • 이지연
심사청구여부 있음 (2018-02-28)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

본 발명은 플라즈마 소스에 관한 것이다. 본 발명에 따른 고밀도 플라즈마 소스는 전자빔 및 이온빔 중 어느 하나를 외부로 제공하는 플라즈마 챔버; 및 상기 플라즈마 챔버와 연통되어, 상기 플라즈마 챔버 내부로 다수 개의 전자들을 공급하는 하나 또는 둘 이상의 전자 발생기;를 구비하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 따른 고밀도 플라즈마 소스는 전자 발생기를 이용하여 플라즈마 챔버 내에 형성된 플라즈마에 다수 개의 전자들을 공급함으로써, 플라즈마의 밀도를 높일 수 있게 된다.

대표청구항

그리드부가 제1면에 형성되고 하나 또는 둘 이상의 관통홀들이 제2면에 형성된 플라즈마 처리실을 구비하고, 상기 플라즈마 처리실에서 플라즈마를 생성하고, 상기 그리드부를 통해 상기 플라즈마 처리실의 플라즈마로부터 전자빔 및 이온빔 중 어느 하나를 추출하여 외부로 제공하는 플라즈마 챔버; 및상기 플라즈마 챔버의 관통홀을 통해 상기 플라즈마 챔버의 플라즈마 처리실과 연결되고, 내부에서 플라즈마를 생성하고, 상기 플라즈마로부터 전자들을 추출하고, 상기 추출된 전자들을 상기 관통홀을 통해 상기 플라즈마 챔버의 플라즈마 처리실로 공급하는 하나

이 특허에 인용된 특허 (2)

  1. [한국] 플라즈마 표면처리 장치 | 이종명
  2. [한국] 플라즈마 발생 유닛, 플라즈마 처리 장치 및 방법 | 남궁환

이 특허를 인용한 특허 (1)

  1. [한국] 대기압 중주파 플라즈마 처리장치 | 이제원, 박진표, 민세흔, 황선정, 박상혁
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