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[한국특허] 반도체 제조 공정에 있어서 실리콘 또는 실리콘 화합물 패턴을 형성하기 위한 신규 방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • H01L-021/027
  • C11D-011/00
  • C11D-007/50
  • H01L-021/02
  • H01L-021/3065
  • H01L-021/311
출원번호 10-2019-0014849 (2019-02-08)
등록번호 10-2029127-0000 (2019-09-30)
DOI http://doi.org/10.8080/1020190014849
발명자 / 주소
  • 이수진 / 대구광역시 달서구 용산로 ***, 용산우방 *차 ***동 ****호 (용산동)
  • 김기홍 / 대구광역시 서구 달서로**길 **-*
  • 이승훈 / 대구광역시 달성군 다사읍 죽곡*길 **,***동 ****호 (대실역 e-편한세상아파트)
  • 이승현 / 대구광역시 달서구 학산남로 **, ***동 ****호 (송현동, 우방송현하이츠아파트)
출원인 / 주소
  • 영창케미칼 주식회사 / 경상북도 성주군 선남면 유서리길 ***-**
대리인 / 주소
  • 특허법인(유한) 해담
심사청구여부 있음 (2019-02-08)
심사진행상태 등록결정(재심사후)
법적상태 등록

초록

본원 발명은 반도체 제조 공정 중 종횡비가 큰 미세 실리콘 패턴을 구현하기 위한 공정을 제공하기 위한 목적을 갖는 것으로서, 미세 실리콘 패턴을 형성하기 위하여 패턴 하부에 남아 있는 유기탄소막 불순물 및 흄에 의한 불순물을 제거하기 위하여 세정공정을 진행함으로서 리프팅 없이 원하는 패턴을 형성하는 신규의 세정 방법에 관한 것으로, 미세 패턴 형성 방법을 제공하는 효과를 나타내는 것이다.

대표청구항

반도체 제조 공정 중 실리콘 또는 실리콘 화합물 층에 실리콘 옥사이드 패턴 존재 하에 폴리층 또는 기타의 화합물층을 증착하는 공정에 있어서,i) 패터닝 된 실리콘 옥사이드 위에 유기막과 무기막을 차례대로 적층하고 패턴 형성을 위한 포토레지스트를 도포한 후 노광과 현상을 거쳐 포토레지스트 패턴을 형성하는 단계;ii) 상기 단계에서 형성된 포토레지스트 패턴을 이용하여 식각이 가능한 가스로 건식 식각을 실시하여 식각하는 단계;iii) 폴리층 또는 기타의 화합물층 증착 전에 상기 식각 공정에 의해 발생된 불순물에 의하여 발생하는 리프팅을

이 특허에 인용된 특허 (2)

  1. [한국] 반도체 소자에서의 투명 비결정질 탄소 구조체 | 인즈핑, 리 웨이민
  2. [한국] 하드마스크를 이용한 반도체소자의 식각 방법 | 정진기
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