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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 | |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2019-0082838 (2019-07-09) | |
등록번호 | 10-2120351-0000 (2020-06-02) | |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020190082838 | |
발명자 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2019-07-09) | |
심사진행상태 | 등록결정(일반) | |
법적상태 | 등록 |
본 발명은 반도체 패키지를 촬영 및 검사하는데 사용되는 비전시스템의 조명 설정 방법에 관한 것으로서, 특히, 반도체 패키지의 검사항목(아웃라인, 볼, 마크)에 따라 최적의 조명을 자동으로 설정할 수 있고, 최소한의 조명으로 높은 퀄리티의 반도체 패키지의 이미지를 획득할 수 있으며, 1종의 검사항목 뿐만 아니라 2종의 검사항목 모두에 적합한 최적 조명을 설정할 수 있는 비전시스템의 조명 설정 방법에 관한 것이다.
대상체에 광을 조사하는 복수의 채널을 구비한 조명부; 상기 조명부에 인가되는 입력전압을 각각 조절하여 광 조사 세기를 제어하는 제어부; 및 상기 대상체를 촬영하는 카메라를 포함하는 비전시스템의 조명 설정 방법에 있어서,A) 상기 조명부에 구비된 각각의 채널의 입력전압을 제1소정간격으로 나누고, 각각의 간격에 해당되는 입력전압을 단계적으로 조절하여 각각의 채널에 개별적으로 인가한 상태에서 상기 카메라로 상기 대상체를 촬영하여 복수의 이미지 데이터를 획득하는 단계;B) 획득된 각각의 이미지 데이터에서 상기 대상체의 검사항목1에 따라 기
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