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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록실용신안 |
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국제특허분류(IPC9판) |
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출원번호 | 20-1990-0011340 (1990-07-31) |
공개번호 | 20-1992-0003434 (1992-02-25) |
공고번호 | 20-0095778-0000 (1995-10-11) |
등록번호 | 20-0095778-0000 (1996-04-03) |
DOI | http://doi.org/10.8080/2019900011340 |
발명자 / 주소 |
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출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (1992-05-29) |
심사진행상태 | 등록결정(일반) |
법적상태 | 소멸 |
[청구범위]P-타입 GaAs에 형성되는 오믹 접촉에 있어서, Be가 도우프된 GaAs층(1)위에 e-비임으로 Pd(4)/Zn(5)/Pd(6)/Au(3)를 차례로 증착하고 H2분위기에서 일정온도로 일정시간동안 열처리하여 형성되는 것을 특징으로 하는 P-타입 GaAs오믹 접촉
P-타입 GaAs에 형성되는 오믹 접촉에 있어서, Be가 도우프된 GaAs층(1)위에 e-비임으로 Pd(4)/Zn(5)/Pd(6)/Au(3)를 차례로 증착하고 H2분위기에서 일정온도로 일정시간동안 열처리하여 형성되는 것을 특징으로 하는 P-타입 GaAs 오믹 접촉.
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