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저 결함밀도 GaAs 기판 개발 기술지원 원문보기

보고서 정보
주관연구기관 한국표준과학연구원
Korea Research Institute of Standards and Science
연구책임자 이주인
보고서유형최종보고서
발행국가대한민국
언어 한국어
발행년월2003-09
주관부처 산업자원부
사업 관리 기관 산업자원부
Korea Institute for Industrial Economics and Trade
등록번호 TRKO201200005079
DB 구축일자 2013-04-18

초록

GaAs를 기반으로 하는 화합물 반도체는 Si대비 우수한 전기, 광학적 특성으로 인해 고속소자 및 광전소자로 활용되고 있다. 특히 광전소자의 경우 가시광에서 적외선범위의 발광소자로서 LED(발광 다이오드)와 LD(레이저 다이오드)등이 주로 사용되고 있다. GaAs 기판을 사용하는 레이저 다이오드는 주로 광 pick-up에 사용되는 780nm edge emitter와 근거리 광통신에 사용되는 850nm VCSEL(표면 발광 레이저 다이오드)이 주로 시용되는데, 특히 780nm 레이저 다이오드가 많이 사용되고 있다. 레이저 다이오드의

목차 Contents

  • 표지 ... 1
  • 제출문 ... 2
  • 목차 ... 3
  • 제 1 장 서론 ... 4
  • 제 1 절 기술지원 필요성 ... 4
  • 제 2 절 기술지원 목표 ... 5
  • 제 3 절 기술지원 내용 ... 5
  • 1. GaAs 기판의 결정결함에 대한 이론적 접근 및 해석 ... 5
  • 2. 저 결함밀도를 갖는 기본구조 설정 ... 7
  • 3. Mixed epitaxy 공정설계 및 구체적 접근 방향 설정 ... 7
  • 4. 분석지원 및 결과해석 ... 8
  • 제 2 장 본론 ... 9
  • 제 1 절 기술지원 성과 ... 9
  • 1. AlAs/GaAs 초격자 buffer 개발 ... 9
  • 2. KOH를 이용한 EPD측정 ... 20
  • 3. 기술적 파급효과 ... 24
  • 제 2 절 기술지원 수행 ... 25
  • 1. 기술지원 수행 일정 ... 25
  • 2. 기술지원 수행 과정 ... 26
  • 3. 기술지원 성과 ... 27
  • 제 3 장 결론 ... 28

연구자의 다른 보고서 :

참고문헌 (25)

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