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NTIS 바로가기주관연구기관 | (주)유니테스트 |
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연구책임자 | 최영배 |
참여연구자 | 길성재 , 정운영 , 이관식 , 김동현 , 장기웅 |
보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2014-09 |
과제시작연도 | 2013 |
주관부처 | 산업통상자원부 Ministry of Trade, Industry and Energy |
등록번호 | TRKO201600017874 |
과제고유번호 | 1415130499 |
사업명 | 신성장동력장비경쟁력강화사업 |
DB 구축일자 | 2017-09-20 |
키워드 | 메모리테스터.플래시메모리.번인.알고리듬패턴제네레이터.테스트보드. |
최종목표
800Mbps급의 빠른 속도로 동작하는 플래시 메모리를 테스트하기 위한 high speed signal 구현 장비이며 고온/저온의 burn-in 챔버에 적용할 수 있는 일체형의 검사 장비를 개발한다.
개발내용 및 결과
high speed pattern generation board 개발
Back plane board/Feed through board 개발
내열성/high speed signal용 test board 개발 (소켓 실장)
high speed / 내열성 / low impen
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