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NTIS 바로가기한국해양정보통신학회논문지 = The journal of the Korea Institute of Maritime Information & Communication Sciences, v.6 no.7, 2002년, pp.1079 - 1083
박창근 (한국과학기술원) , 염기수 (한밭대학교 정보통신컴퓨터 공학부)
We made ESD tester to measure ESD threshold voltage of semiconductor devices. The HBM ESD test is the most popular method to measure the ESD threshold voltage of MMSIC. We use flyback method which is one of the DC-DC converter to get high ESD voltage. With flvback method, we can isolate the 1ow volt...
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J. K. Keller, 'Protection of MOS integrated circuits from destruction by electrostatic discharge,' EOS/ESD Symposium Proc., 1980
B. Kleveland, et al.,'Distributed ESD Protection for High-Speed Integrated Circuits'IEEE Electron Device Lett., vol. 21, no. 8, pp. 390-392, 2000
K. Bock., 'ESD issues in compound semiconductor high-frequency devices and circuits' Microelectronics Reliability., vol. 38, pp. 1781-1793, 1998
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