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NTIS 바로가기한국표면공학회지 = Journal of the Korean institute of surface engineering, v.41 no.3, 2008년, pp.83 - 87
엄두승 (중앙대학교 전자전기공학부) , 강찬민 (중앙대학교 전자전기공학부) , 양성 (중앙대학교 전자전기공학부) , 김동표 (중앙대학교 전자전기공학부) , 김창일 (중앙대학교 전자전기공학부)
This study described the effects of RF power, DC bias voltage, chamber pressure and gas mixing ratio on the etch rates of TiN thin film and selectivity of TiN thin film to
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