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확장된 피사계 심도 알고리즘에서 엣지 정보 분석에 의한 3차원 깊이 정보 추출 방법
The 3D Depth Extraction Method by Edge Information Analysis in Extended Depth of Focus Algorithm 원문보기

제어·로봇·시스템학회 논문지 = Journal of institute of control, robotics and systems, v.22 no.2, 2016년, pp.139 - 146  

강선우 (호서대학교 전자공학과) ,  김준식 (호서대학교 전자공학과) ,  주효남 (호서대학교 디지털디스플레이공학과)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

Recently, popularity of 3D technology has been growing significantly and it has many application parts in the various fields of industry. In order to overcome the limitations of 2D machine vision technologies based on 2D image, we need the 3D measurement technologies. There are many 3D measurement m...

주제어

AI 본문요약
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문제 정의

  • 3차원 측정하는 방법은 주사식 전자현미경 (scanning probe microscope) , [3] 위상 천이 간섭계(phase shifting interferometiy) [4], 동 초점 주사 현미경(confbcal scanning microscope) [5], 백색광 주사 간섭계(whitolight scanning interferometiy) [6] 등 여러 가지가 있다. 본 논문에서는 3차원 정보 추출의 방법 중 저비용, 대면적의 검사영역과 ㎛단위의 정보를 측정할 수 있는 확장된 피사계 심도(EDF: Extended Depth of Focus) 방법 [기에 대해 논하겠다.

가설 설정

  • 존재하고, 그림 7(d)처럼 오른쪽이 잘 맞은 영상이 존재할 것이다. 두 영상을 보면 사람 눈으로 봐도 경계가 보일 정도다.
  • 그림 2(a) 처럼 여러 장의 입력 영상0S浦), 眼g), W浦), - , 姊(*, ;))을 모두 소벨 마스크를 사용하여 엣지 영상 ’G워(砌), S2(x, y), S3{x, y), ", %(旳/))을 만든다. 영상이 선명하다면 엣지값은 클 것이고, 영상이 흐리다면 엣지 값은 작을 것이다. 이를 그래프로 나타내면 그림 2(c)처럼 그려진다.
  • 토대로 평균값과 최댓값, 최솟값을 구한다. 평균값은 흐려진 화소값에 근접한 값일 것이다. 평균값으로부터 최댓값까지의 차이와 평균값으로부터 최솟값까지의 차이를 비교했을 때 차이가 더 큰 쪽이 평균값과는 다른 값이다.
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참고문헌 (13)

  1. M. S. Kim, "Development of a vision system for inspecting mura defects on FPD classes," M. S. Thesis (in Korean), Hoseo University, 2007. 

  2. C. W. Chu, J. Y. Park, H. W. Kim, J. C. Park, S. J. Lim, and B. K. Koo, "Recent trends of 3D reconstruction technology," J. of Electronics and Telecommunications Trends, vol. 22, no. 4, pp. 1-11, 2007. 

  3. R. Wiesendanger, Scanning Probe Microscopy and Spectroscopy, Cambridge Univ. Press, 1994. 

  4. H. Schreiber and J. H. Bruning, Optical Shop Testing, Chap. 14, Wiley, New York, 2006. 

  5. G. X. Zhang, Y. M. Fan, X. Gao, S. G. Liu, Z. R. Qiu, C. Z. Jiang, X. F. Li, and J. B. Guo, "A confocal probe based on time difference measurement," Manufacturing Technology, vol. 53, no. 1, pp. 417-420, 2004. 

  6. J. C. Wyant, "White light extended source shearing interferometer," Applied Optics, vol. 13, no. 1, pp. 200-202, Jan. 1974. 

  7. K. M. Ryu, H. N. Joo, J. S. Kim, D. C. Park, and I. H. Choi, "On the study of initializing extended depth of focus algorithm parameters," J. of Broadcast Eng., vol. 17, no. 4, pp. 625-633, 2012. 

  8. G. Y. Song, "Extended depth of focus algorithm using Gaussian feedback," M. S. Thesis (in Korean), Chungnam National University, 2004. 

  9. A. G. Valdecasasa, D. Marshallb, J. M. Becerraa, and J. J. Terrero, "On the extended depth of focus algorithms for bright field microscopy," Micron., vol. 32, no. 6, pp. 559-569, Aug. 2001. 

  10. R. C. Gonzalez and R. E. Woods, Digital Image Processing, 2nd ed. Prentice Hall, 2002. 

  11. S.-O. Shim and T.-S. Choi, "A novel iterative shape from focus algorithm based on combinatorial optimization," Pattern Recognition, vol. 43, no. 10, pp. 3338-3347, 2010. 

  12. R. J. Pieper and A. Korpel, "Image processing for extended depth of field," Applied Optics, vol. 22, no. 10, pp. 1449-1453, 1983. 

  13. F. Aguet, Dimitri Van De Ville, and M. Unser, "Model-Based 2.5-D deconvolution for extended depth of field in brightfield microscopy," IEEE Trans. on Image Process., vol. 17, no. 7, pp. 1144-1153, Jul. 2008. 

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