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[국내논문] 엣지 컴퓨팅 환경에서 적용 가능한 딥러닝 기반 라벨 검사 시스템 구현
Implementation of Deep Learning-based Label Inspection System Applicable to Edge Computing Environments 원문보기

대한임베디드공학회논문지 = IEMEK Journal of embedded systems and applications, v.17 no.2, 2022년, pp.77 - 83  

배주원 (Korea Maritime and Ocean University) ,  한병길 (Electronics and Telecommunications Research Institute)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

In this paper, the two-stage object detection approach is proposed to implement a deep learning-based label inspection system on edge computing environments. Since the label printed on the products during the production process contains important information related to the product, it is significant...

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참고문헌 (25)

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  25. https://github.com/AlexeyAB/darknet/ 

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