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[국내논문] 유한요소 해석을 통해 온도와 상대습도에 따른 수분 흡습 및 탈습을 반영한 반도체 패키지 구조의 박리 예측
Delamination Prediction of Semiconductor Packages through Finite Element Analysis Reflecting Moisture Absorption and Desorption according to the Temperature and Relative Humidity 원문보기

마이크로전자 및 패키징 학회지 = Journal of the Microelectronics and Packaging Society, v.29 no.3, 2022년, pp.37 - 42  

엄희진 (한양대학교 융합기계공학과) ,  황연택 (한양대학교 융합기계공학과) ,  김학성 (한양대학교 융합기계공학과)

초록
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최근 반도체 패키지 구조는 점점 더 얇아지고 복잡해지고 있다. 두께가 얇아짐에 이종 계면에서 물성차이에 의한 박리는 심화될 수 있으며 따라서 계면의 신뢰성이 패키징 설계에 중요한 요소라 할 수 있다. 특히, 반도체 패키징에 많이 사용되는 폴리머는 온도와 수분에 영향을 크게 받기 때문에 환경에 따른 물성 변화 고려가 필수적이다. 따라서, 본 연구에서는 다양한 온도조건에서 수분의 흡습과 탈습을 모두 고려한 패키지 구조의 계면 박리 예측을 유한 요소 해석을 통해 수행하였다. 확산계수와 포화 수분 함량과 같은 재료의 물성은 흡습 실험을 통해 확보하였으며, 흡습 이후 TMA 와 TGA 를 통하여 각 재료의 수분 팽창 계수를 확보하였다. 각 계면의 접합 강도 평가를 위해 수분의 영향을 고려하여 다양한 온도 조건에서 마이크로 전단 실험을 수행하였다. 이러한 물성을 바탕으로 온도와 수분에 의해 발생하는 변형을 모두 고려한 패키지 박리 예측 해석을 수행하였으며, 결과적으로 리플로우 공정 동안의 실시간 수분 탈습 거동을 고려한 계면 박리 예측을 성공적으로 수행하였다.

Abstract ▼ AI-Helper 아이콘AI-Helper

Recently, the semiconductor package structures are becoming thinner and more complex. As the thickness decrease, interfacial delamination due to material mismatch can be further maximized, so the reliability of interface is a critical issue in industry field. Especially, the polymers, which are wide...

주제어

#Semiconductor package   #hygroscopic thermal behavior   #interfacial delamination   #adhesion reliability  

표/그림 (5)

참고문헌 (15)

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