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[해외논문] Scattering-limited and ballistic transport in a nano-CMOS circuit

Microelectronics journal, v.40 no.3, 2009년, pp.581 - 583  

Saad, I. (School of Engineering & IT, Universiti Malaysia Sabah, 88999 Kota Kinabalu, Sabah, Malaysia) ,  Tan, M.L.P. ,  Lee, A.C.E. ,  Ismail, R. ,  Arora, V.K.

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

The mobility and saturation velocity in the nanoscale metal oxide semiconductor field effect transistor (MOSFET) are revealed to be ballistic; the former in a channel whose length is smaller than the scattering-limited mean free path. The drain-end carrier velocity is smaller than the ultimate satur...

주제어

참고문헌 (8)

  1. Jpn. J. Appl. Phys. Arora 24 537 1985 10.1143/JJAP.24.537 High-field distribution and mobility in semiconductors 

  2. J. Appl. Phys. Fang 41 4 1825 1970 10.1063/1.1659111 Hot electron effects and saturation velocities in silicon inversion layers 

  3. Microelectron. J. Fairus 32 679 2000 10.1016/S0026-2692(00)00151-8 Quantum engineering of nanoelectronic devices: the role of quantum confinement on mobility degradation 

  4. Microelectron. J. Arora 31 11/12 853 2000 10.1016/S0026-2692(00)00085-9 Quantum engineering of nanoelectronic devices: the role of quantum emission in limiting drift velocity and diffusion coefficient 

  5. Appl. Phys. Lett. Arora 91 103510 2007 10.1063/1.2780058 Ballistic quantum transport in a nanoscale metal-oxide-semiconductor field effect transistor 

  6. IEEE Trans. Electron. Devices Greenberg 41 8 1334 1994 10.1109/16.297726 Velocity saturation in the extrinsic device: a fundamental limit in HFET's 

  7. Jurnal Elektrika Tan 9 1 37 2007 Modeling of nanoscale MOSFET performance in the velocity saturation region 

  8. Semicond. Sci. Technol. Arora 5 9 967 1990 10.1088/0268-1242/5/9/007 Effect of electric-field-induced mobility degradation on the velocity distribution in a sub- mu m length channel of InGaAs/AlGaAs heterojunction MODFET 

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