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[해외논문] High-Frequency Scalable Modeling and Analysis of a Differential Signal Through-Silicon Via

IEEE transactions on components, packaging, and manufacturing technology, v.4 no.4, 2014년, pp.697 - 707  

Joohee Kim (Dept. of Electr. Eng., Korea Adv. Inst. of Sci. & Technol., Daejeon, South Korea) ,  Jonghyun Cho (Dept. of Electr. Eng., Korea Adv. Inst. of Sci. & Technol., Daejeon, South Korea) ,  Joungho Kim (Dept. of Electr. Eng., Korea Adv. Inst. of Sci. & Technol., Daejeon, South Korea) ,  Jong-Min Yook (Syst. Package Res. Center, KETI, Seoul, South Korea) ,  Jun Chul Kim (Syst. Package Res. Center, KETI, Seoul, South Korea) ,  Junho Lee (Adv. Design Team, Hynix Semicond. Inc., Icheon, South Korea) ,  Kunwoo Park (Adv. Design Team, Hynix Semicond. Inc., Icheon, South Korea) ,  Jun So Pak (Dept. of Electr. Eng., Korea Adv. Inst. of Sci. & Technol., Daejeon, South Korea)

Abstract AI-Helper 아이콘AI-Helper

An analytic scalable model of a differential signal through-silicon via (TSV) is proposed. This TSV is a ground-signal-signal-ground (GSSG)-type differential signal TSV. Each proposed analytical equation in the model is a function of the structural and material design parameters of the TSV and the b...

참고문헌 (21)

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  3. 10.1109/ISCAS.2008.4541535 

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