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[한국특허] 반도체 웨이퍼의 습식 처리 방법 및 습식 처리 장치 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • H01L-021/302
출원번호 10-1997-0068521 (1997-12-13)
공개번호 10-1998-0079529 (1998-11-25)
등록번호 10-0262301-0000 (2000-04-29)
DOI http://doi.org/10.8080/1019970068521
발명자 / 주소
  • 나까따니 노리까즈 / 일본 도꾜도 지요다꾸 마루노우찌 *쪼메 *-*미쯔비시 덴기 가부시끼가이샤 내
출원인 / 주소
  • 미쓰비시덴키 가부시키가이샤 / 일본국 도쿄도 지요다쿠 마루노우치 *쵸메 *반 *고
대리인 / 주소
  • 구영창; 이상희; 주성민 (KOO, Yeong Chang)
  • 서울 종로구 신문로*가 ***번지 흥국생명빌딩*층(김.장법률사무소); 서울 강남구 압구정동 현대아파트**동 ***호; 서울 종로구 내자동 세양빌딩 (김.장법률사무소)
심사청구여부 있음 (1997-12-13)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 소멸

초록

습식 처리된 반도체 웨이퍼로의 입자를 방지한다.반도체 웨이퍼를 약액 처리하고, 순수한 물로 물세척을 행하지 않고, 그 후에 알콜을 포함하는 증기 분위기 속으로 직접 이동하여 건조를 행하는 반도체 웨이퍼의 습식 처리 방법에 있어서, 약액 처리와 건조의 사이에서 반도체 웨이퍼를 반도체 입자 제거제를 포함하는 약액에 의해 처리한다. 반도체 입자 제거제로서는 입자의 제타 전위를 조정하여 입자 부착 방지를 도모하는 반도체 입자 부착 방지제를 이용한다. 또한, 반도체 콜로이드의 응집을 도모하는 입자의 형성을 방지하는 반도체 콜로이드 응집제

대표청구항

하나의 처리조에서 반도체 웨이퍼의 약물 처리를 행한 후에 상기 반도체 웨이퍼의 물세척을 행하지 않고, 그 후에 상기 반도체 웨이퍼를 알콜을 포함하는 증기 분위기 속으로 직접 이동하여 건조를 행하는 방법에 있어서, 상기 약물 처리와 건조 사이에 상기 반도체 웨이퍼를 반도체 입자 제거제, 또는 반도체 입자 제거제를 포함하는 용액으로 처리하는 것을 특징으로 하는 반도체 웨이퍼의 습식 처리 방법.

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