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반도체 장치의 트랜지스터 제조 방법 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/공개특허
국제특허분류(IPC8판)
  • H01L-021/336
출원번호 10-1998-0029514 (1998-07-22)
공개번호 10-2000-0009239 (2000-02-15)
DOI http://doi.org/10.8080/1019980029514
발명자 / 주소
  • 이태정 / 경기도 수원시 팔달구 영통동 두산아파트 ***동 ****호
  • 이수철 / 서울특별시 강남구 도곡*동 ***-* 매봉 삼성아파트 Α동 ****호
  • 양정환 / 경기도 용인시 기흥읍 농서리 산 **번지
출원인 / 주소
  • 삼성전자주식회사 / 경기도 수원시 영통구 매탄동 ***
대리인 / 주소
  • 권석흠; 리앤목특허법인; 정상빈 (KWON, Suk Heum)
  • 서울 강남구 역삼동 ***-** 서림빌딩**층 (유미특허법인); 서울 서초구 서초동****-*번지 고려빌딩(리앤목 특허법인); 서울특별시 강남구 논현동 *** 영풍빌딩*층(특허법인가산)
심사진행상태 취하(심사미청구)
법적상태 취하

초록

반도체 장치의 트랜지스터(transistor) 제조 방법을 개시한다. 본 발명의 일 관점은, 반도체 기판 상에 게이트 패턴(gate pattern)을 형성한다. 게이트 패턴이 형성된 반도체 기판을 중수소(Deutrium;D) 분위기로 어닐링(annealing)한다. 중수소 분위기로 어닐링하는 단계는 대략 400℃ 내지 500℃ 정도의 온도 조건으로, 대략 1분 내지 60분 정도의 시간 동안 유지하여 수행된다. 중수소 분위기로 어닐링하는 단계 이전에, 게이트 패턴의 측벽에 스페이서(spacer)를 더 형성한다.

대표청구항

반도체 기판 상에 게이트 패턴을 형성하는 단계; 상기 게이트 패턴이 형성된 상기 반도체 기판을 중수소 분위기로 어닐링하는 단계; 및상기 어닐링된 게이트 패턴 또는 상기 어닐링된 반도체 기판을 덮어 확산 장벽의 역할을 하는 물질막을 형성하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 장치의 트랜지스터 제조 방법.

발명자의 다른 특허 :

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