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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/공개특허 |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2000-0044386 (2000-07-31) |
공개번호 | 10-2002-0011009 (2002-02-07) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020000044386 |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2003-04-07) |
심사진행상태 | 거절결정(일반) |
법적상태 | 거절 |
본 발명은 강유전체 캐패시터의 열화를 방지할 수 있는 강유전체 메모리 소자에 관한 것으로, 반도체 기판 상부에 형성된 하부전극, 강유전체막 및 상부전극을 이루어지는 강유전체 캐패시터 및 상기 강유전체 캐패시터를 덮는 HfO2막을 포함하는 강유전체 메모리 소자를 제공한다.
강유전체 메모리 소자에 있어서,반도체 기판 상부에 형성된 하부전극, 강유전체막 및 상부전극을 이루어지는 강유전체 캐패시터; 및상기 강유전체 캐패시터를 덮는 HfO2막을 포함하는 강유전체 메모리 소자.
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