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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2002-0069997 (2002-11-12) |
공개번호 | 10-2004-0041896 (2004-05-20) |
등록번호 | 10-0475116-0000 (2005-02-24) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020020069997 |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2002-11-12) |
심사진행상태 | 등록결정(일반) |
법적상태 | 소멸 |
Al2O3 유전막/HfO2 유전막의 두께비가 1 이상인 Al2O3/HfO2 복합유전막을 가지는 반도체 메모리 소자의 커패시터 및 그 제조 방법에 관하여 개시한다. 본 발명에 따른 커패시터는 하부 전극과, 상기 하부 전극 위에 차례로 형성된 Al2O3 유전막 및 HfO2 유전막을 포함하고 상기 Al2O3 유전막이 상기 HfO2 유전막의 두께와 같거나 큰 두께로 형성된 복합유전막과, 상기 복합유전막 위에 형성된 상부 전극을 포함한다. 상기 Al2O3 유전막은 30 ∼ 60Å의 두께로 형성되고, 상기 HfO2 유전막은 40Å 이하의 두께
하부 전극과, 상기 하부 전극 위에 차례로 형성된 Al2O3 유전막 및 HfO2 유전막을 포함하고, 상기 Al2O3 유전막이 상기 HfO2 유전막의 두께와 같거나 큰 두께로 형성된 복합유전막과, 상기 복합유전막 위에 형성된 상부 전극을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 메모리 소자의 커패시터.
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