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연합인증

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[한국특허] 블랭크 마스크 및 포토마스크 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록특허
국제특허분류(IPC8판)
  • G03F-001/26
출원번호 10-2020-0107589 (2020-08-26)
등록번호 10-2209617-0000 (2021-01-25)
DOI http://doi.org/10.8080/1020200107589
발명자 / 주소
  • 김성윤 / 경기도 수원시 장안구 정자로 *** (주)SKC중앙연구소
  • 손성훈 / 경기도 수원시 장안구 정자로 *** (주)SKC중앙연구소
  • 정민교 / 경기도 수원시 장안구 정자로 *** (주)SKC중앙연구소
  • 신인균 / 경기도 수원시 장안구 정자로 *** (주)SKC중앙연구소
  • 최석영 / 경기도 수원시 장안구 정자로 *** (주)SKC중앙연구소
  • 이형주 / 경기도 수원시 장안구 정자로 *** (주)SKC중앙연구소
  • 김수현 / 경기도 수원시 장안구 정자로 *** (주)SKC중앙연구소
출원인 / 주소
  • 에스케이씨 주식회사 / 경기도 수원시 장안구 장안로***번길 **(정자동)
대리인 / 주소
  • 정화승
심사청구여부 있음 (2020-08-26)
심사진행상태 등록결정(일반)
법적상태 등록

초록

구현예는 블랭크 마스크, 포토마스크의 제조방법, 포토마스크 등에 대한 것으로, 구현예의 블랭크 마스크는 고투과율 영역과 저투과율 영역을 동일한 마스크 내에 구현 가능한 다층 구조를 가져서, 보다 향상된 내구성을 가지면서 사이드 로브 등의 문제 발생 없이 2 가지 이상의 투과율을 가지는 포토마스크를 구현할 수 있는 블랭크 마스크를 제공할 수 있다.

대표청구항

서로 마주보는 제1기판면과 제2기판면을 갖는 광투과성 기판; 상기 광투과성 기판 상에 위치하며 투과하는 빛의 위상차와 투과율을 조절하는 조절층; 및상기 조절층 상에 위치하고 투과하는 빛의 위상차를 조절하는 상부투과율조절층;을 포함하고,상기 조절층은, 다층막 및 기저위상조절층을 포함하고,상기 다층막은, 상부위상조절층; 그리고 하부투과율조절층을 포함하고, 상기 상부위상조절층은 규소를 포함하고 위상차를 조절하고,상기 하부투과율조절층은 금속을 포함하고 위상차 및 투과율을 조절하고,상기 기저위상조절층은 상기 광투과성 기판과 상기 다층막의 사

이 특허에 인용된 특허 (2)

  1. [한국] 위상반전 블랭크 마스크 및 포토 마스크 | 남기수, 신철, 이종화, 서성민, 김세민
  2. [한국] 하프톤 마스크, 포토마스크 블랭크스 및 하프톤 마스크의 제조방법 | 미마사카 마사히로
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