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테스트소켓용 접촉핀 원문보기

IPC분류정보
국가/구분 한국(KR)/등록실용신안
국제특허분류(IPC8판)
  • G01R-031/26
  • G01R-001/067
출원번호 20-2005-0011705 (2005-04-27)
등록번호 20-0389307-0000 (2005-06-30)
DOI http://doi.org/10.8080/2020050011705
발명자 / 주소
  • 전진국 / 경기도 군포시 산본동 ****-* 수리아파트 ***-***
출원인 / 주소
  • 주식회사 오킨스전자 / 경기도 의왕시 오전동 ***-* 벽산선영테크노피아 *층
대리인 / 주소
  • 김중필 (Kim, Jung Pil)
  • 경기 안양시 동안구 평촌동 ***-* 두산벤처다임 ***호(김중필국제특허법률사무소)
심사진행상태 설정등록의뢰
법적상태 소멸

초록

본 고안은 테스트소켓용 접촉핀에 관한 것으로서, 본 고안에 따른 테스트소켓용 접촉핀은 테스트소켓이 결합되는 테스트보드와 상기 테스트소켓에 탑재되는 반도체칩패키지사이의 전기신호경로를 제공하기 위한 테스트소켓용 접촉핀에 있어서, 상기 반도체칩패키지 측 접촉영역에는 도전성 접촉강화층이 형성되어 있는 것을 특징으로 한다. 이에 의해, 테스트소켓용 접촉핀과 테스트보드사이 또는 테스트소켓용 접촉핀과 반도체칩패키지사이의 접촉저항을 감소시킬 수 있다.

대표청구항

테스트소켓이 결합되는 테스트보드와 상기 테스트소켓에 탑재되는 반도체칩패키지사이의 전기신호경로를 제공하기 위한 테스트소켓용 접촉핀에 있어서,상기 반도체칩패키지 측 접촉영역에는 도전성 접촉강화층이 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 테스트소켓용 접촉핀.

발명자의 다른 특허 :

이 특허에 인용된 특허 (1)

  1. [일본] CONTACT PROBE AND ELECTRIC CONNECTOR USING SAME | KOZU GIICHI, KAWANAMI NORIHIDE, KATAYOSE KENJI

이 특허를 인용한 특허 (2)

  1. [한국] 반도체 패키지 검사용 소켓 및 그 제조방법 | 안윤태, 김태현, 김경민
  2. [한국] 반도체 패키지 검사용 소켓 및 그 제조 방법 | 안윤태, 김장현, 김경민
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