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NTIS 바로가기주관연구기관 | 한국전자통신연구원 Electronics and Telecommunications Research Institute |
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연구책임자 | 장진 |
참여연구자 | 정관수 , 전정목 , 임성실 , 정문연 , 송현균 , 유순성 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 1992-02 |
등록번호 | TRKO200500015898 |
DB 구축일자 | 2013-04-18 |
차세대 기억소자 제작에 사용될 수 있는 양질의 thin 옥사이드, 실리콘 나이트라이드, ON, ONO 막을 remote plasma-CVD 방법으로 제작하는 기술을 개발함(Thermal SiO2와 같은 질의 절연막을 400°C 이하에서 제작함)
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