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NTIS 바로가기주관연구기관 | 선테스트코리아(주) |
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보고서유형 | 최종보고서 |
발행국가 | 대한민국 |
언어 | 한국어 |
발행년월 | 2015-07 |
과제시작연도 | 2014 |
주관부처 | 중소기업청 Small and Medium Business Administration |
등록번호 | TRKO201600005556 |
과제고유번호 | 1425089191 |
사업명 | 제품공정개선기술개발 |
DB 구축일자 | 2016-08-27 |
키워드 | 반도체.검사장치.메모리.변인보드.친환경. |
□ 개발목표
계획
○ 20nm급 DDR4 메모리 전용 번인테스트 소켓 및 보드 검사 장치를 개발하여 번인검사 공정의 수율을 극대화 하고 공정을 혁신적으로 개선하기 위하여 검사 장치를 새로 개발하고자함
실적
○ 최근 미세화 된 20nm급 메모리 반도체 DDR4에 적합하도록 전용 검사 장치를 개발하였음(4채널NAND FLASH用)
○ 검사공정을 혁신적으로 개선하고 검사 시간 단축 및 정확성을 유지하기 위한 신 장비 개발
□ 정량적 목표 항목 및 달성도
1. 전원단(PS)테스트(%)
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