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자동차 반도체의 신뢰성 테스트 표준: AEC-Q100
Test Standard for Reliability of Automotive Semiconductors: AEC-Q100 원문보기

전기전자학회논문지 = Journal of IKEEE, v.25 no.3, 2021년, pp.578 - 583  

이성수 (Soongsil University)

초록
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본 논문에서는 반도체의 신뢰성을 테스트하기 위한 가속 시험에 대해 설명하고 자동차 반도체의 신뢰성 테스트 국제 표준인 AEC-Q100에 대해 다룬다. 반도체는 수십년 동안 사용할 수 있기 때문에 수명 전주기에서 발생하는 잠재적인 문제점을 테스트하기 위해서는 집중적으로 스트레스를 가하여 테스트 시간을 최소화하는 가속 시험이 필수적이다. 자동차 반도체에서 사용하는 대표적인 가속 시험인 AEC-Q100은 반도체에서 발생하는 각종 불량과 그 원인을 분석할 수 있도록 설계되었기 때문에 반도체의 수명과 신뢰성을 예측할 수 있을 뿐만 아니라 설계상, 제조상의 문제도 쉽게 찾아낼 수 있다. AEC-Q100은 가속 스트레스 시험, 가속 수명 시험, 패키지 적합성 시험, 공정 신뢰성 시험, 전기적 특성 시험, 결함 검출 시험, 기계적 특성 시험의 7개 테스트 그룹으로 구성되며 동작 온도에 따라 Grade 0에서 Grade 3까지 4개의 등급이 존재한다. 반도체 소자, 광전자 반도체, 센서 반도체, 멀티 칩 모듈, 수동 소자 분야에서는 각각 AEC-Q101, Q102, Q103, Q104, Q200이 사용된다.

Abstract ▼ AI-Helper 아이콘AI-Helper

This paper describes acceleration tests for reliability of semiconductors. It also describes AEC-Q100, international test standard for reliability of automotive semiconductors. Semiconductors can be used for dozens of years. So acceleration tests are essential to test potential problems over whole p...

주제어

#ISO/TR 4804   #Safety   #Security   #Autonomous Driving   #ISO 26262   #ISO/PAS 21448   #ISO 21434  

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참고문헌 (13)

  1. Y. Shin and S. Lee, "Compliance Technologies of Electromagnetic Compatibility in Automotive Electronic Systems," j.inst.Korean.electr.electron.eng., vol.22, no.2, pp.506-509, 2018. DOI: 10.7471/ikeee.2018.22.2.506 

    원문보기 상세보기 crossref

  2. S. Lee and C. Kim, "Reliability Test for Automotive Semiconductors," the Magazine of the IEIE, vol.46, no.1, pp.39-45, 2019. 

  3. AEC-Q100 Rev-H, "Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Integrated Circuits," http://www.aecouncil.com/Documents/AEC_Q100_ Rev_H_Base_Document.pdf 

  4. https://www.rmqsi.org/using-accelerated-life -testing-to-assess-warranty-risk/ 

  5. S. Arrhenius, "Uber die Dissociationswarme und den Einfluss der Temperatur auf den Dissociationsgrad der Elektrolyte," Zeitschrift fur Physikalische Chemie, vol.4, pp.96-116, 1889. 

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  6. K. Laidler, Chemical Kinetics, 3rd edition, Harper & Row, 1987. 

  7. http://passionateaboutoss.com/bathtub-curve/ 

  8. AEC-Q101 Rev-E, "Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Discrete Semiconductors," http://www.aecouncil.com/Documents/AEC_Q101_ Rev_E_Base_Document.pdf 

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  12. AEC-Q200 Rev-D, "Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Multichip Modules (MCM) In Automotive Applications," http://www.aecouncil.com/Documents/AEC_Q200_Rev_D_Base_ Document.pdf 

  13. JEDEC Standards & Documents Search, https://www.jedec.org/standards-documents 

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