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NTIS 바로가기국가/구분 | 한국(KR)/등록특허 |
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국제특허분류(IPC8판) |
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출원번호 | 10-2002-0047518 (2002-08-12) |
공개번호 | 10-2004-0015428 (2004-02-19) |
등록번호 | 10-0513719-0000 (2005-09-01) |
DOI | http://doi.org/10.8080/1020020047518 |
발명자 / 주소 | |
출원인 / 주소 |
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대리인 / 주소 |
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심사청구여부 | 있음 (2002-08-12) |
심사진행상태 | 등록결정(일반) |
법적상태 | 소멸 |
본 발명은 하프늄 산화막 형성용 전구체 및 상기 전구체를 이용한 하프늄 산화막의 형성방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 전기적 특성을 개선하면서 저온증착이 가능하고, 증착속도가 향상되며, 향상된 단차 피복성을 나타내는 하프늄 산화막 형성용 전구체, 상기 전구체를 이용한 하프늄 산화막의 형성방법 및 상기 형성방법에 따라 얻어진 하프늄 산화막을 채용한 커패시터와 트랜지스터 및 이들을 구비한 전자소자에 관한 것이다.
HFCL4 와 질소 화합물이 결합된 것을 특징으로 하는 하프늄 산화막 형성용 전구체.
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